防止因型腔部的偏移而引起的不良的方法
技术领域
本发明涉及防止因铸件的制作中的型腔部的偏移而引起的不良的方法。特别是涉及通过推定型腔部的偏移，来防止因偏移而引起的不良的方法。
背景技术
在铸件工厂中，在对铸模进行造型的造型生产线，特别是带砂箱的铸模的造型生产线中，将载置图案的图案载体(托板)与砂箱分别组合为上砂箱用以及下砂箱用，向由砂箱、托板以及挤压板形成的造型空间填充造型砂而将上铸模与下铸模分别造型后，使上砂箱与下砂箱合箱。然后，通过对上下铸模进行浇铸而制造铸件。
若在组合图案载体与砂箱时产生位置偏移，则被浇铸而制造铸件的空间亦即型腔部的位置相对于砂箱偏移，结果在使上下砂箱合箱时，在上铸模的型腔部与下铸模的型腔部产生偏移。此外，本说明书中称为“型腔部的偏移”的情况，只要无特别说明，则是指上铸模的型腔部与下铸模的型腔部之间的偏移。另外，若在使上下砂箱合箱时在上下砂箱之间产生位置偏移，则即使上下铸模中的各个型腔部位于规定的位置，也因上下砂箱的偏移而在上下铸模产生偏移，结果在型腔部产生偏移。若在型腔部存在偏移，则成为不良的铸件制品。因此，公知采取如下对策：通过在图案载体与砂箱设置销与衬套，将销嵌合于衬套，来防止图案载体与砂箱以及上下砂箱的偏移。
但是，由于图案载体、砂箱多次被再利用，所以销或衬套磨损，因此存在容易产生偏移的情况。因此，提出了为了分析造型信息，而检测砂箱的销与衬套的磨损量，并经由网络进行发送，来监视在造型生产线的运转时检测出的磨损量(参照专利文献1)。
但是，砂箱的销、衬套的磨损不一定均匀地产生，若磨损，则也未必在型腔部产生偏移。
因此，本发明的课题在于，提供一种通过测量图案载体与砂箱的偏移、上下砂箱的偏移，来防止因型腔部的偏移而引起的不良的方法。
专利文献1：日本特开2001-321927号公报
发明内容
为了解决上述课题，本发明的第一方式所涉及的防止因型腔部的偏移而引起的不良的方法例如如图2、图3、图9、图12所示，是在使用与上砂箱用托板130组合的上砂箱110以及与下砂箱用托板140组合的下砂箱120的带砂箱的铸模的造型中，防止因型腔部的偏移而引起的不良的方法，其具备：测量上砂箱用托板130与上砂箱110的偏移的工序；测量下砂箱用托板140与下砂箱120的偏移的工序；测量被合箱的上砂箱110与下砂箱120的偏移的工序；以及根据上砂箱用托板130与上砂箱110的偏移、下砂箱用托板140与下砂箱120的偏移、及被合箱的上砂箱110与下砂箱120的偏移，求出型腔部100的偏移来判定是否在允许范围内的工序。
若这样构成，则基于上下砂箱用托板与上下砂箱的偏移的测量以及被合箱的上下砂箱的偏移的测量，求出型腔部的偏移来判定是否在允许范围内，由此能够防止因型腔部的偏移而引起的不良。
在本发明的第二方式所涉及的防止因型腔部的偏移而引起的不良的方法中，例如，也可以如图2、图3、图9、图12所示，上砂箱用托板130与上砂箱110通过阳定位夹具112与阴定位夹具132而相互定位，下砂箱用托板140与下砂箱120通过阳定位夹具142与阴定位夹具122而相互定位，上砂箱110与下砂箱120的合箱通过阳定位夹具112与阴定位夹具122而相互定位。若这样构成，则上下砂箱与上下砂箱用托板以及上下砂箱的定位使用阳定位夹具与阴定位夹具来进行定位，因此难以产生偏移，能够防止因型腔部的偏移而引起的不良。
在本发明的第三方式所涉及的防止因型腔部的偏移而引起的不良的方法中，例如，也可以如图5～图7所示，进一步具备测量上砂箱用托板130、上砂箱110、下砂箱用托板140以及下砂箱120的阳定位夹具112、142或阴定位夹具122、132的磨损量的工序。若这样构成，则测量阳定位夹具或阴定位夹具的磨损量，由此可知偏移是否是因磨损而产生的。
在本发明的第四方式所涉及的防止因型腔部的偏移而引起的不良的方法中，例如，也可以如图5～图7所示，在测量磨损量的工序中，测量阳定位夹具112、142的外周或阴定位夹具122、132的内周。若这样构成，则测量阳定位夹具的外周或阴定位夹具的内周而测量磨损量，由此即使产生不均匀磨损，也能够准确地测量出磨损量。
在本发明的第五方式所涉及的防止因型腔部的偏移而引起的不良的方法中，例如，也可以如图12所示，进一步具备在阳定位夹具112、142或阴定位夹具122、132的磨损量不在允许范围内时发出警告的工序。若这样构成，则在阳定位夹具或阴定位夹具的磨损量超过允许范围的情况下发出警告，由此能够掌握是磨损量较大的状态。
在本发明的第六方式所涉及的防止因型腔部的偏移而引起的不良的方法中，例如，也可以如图12所示，进一步具备为了能够掌握在带砂箱的铸模的造型生产线的维护时成为阳定位夹具112或阴定位夹具122的更换对象的砂箱，而使阳定位夹具112或阴定位夹具122的磨损量与具有该阳定位夹具112或阴定位夹具122的上砂箱110或下砂箱120相关联的工序。若这样构成，则能够容易地掌握阳定位夹具或阴定位夹具产生磨损的上下砂箱，由此能够高效地进行更换、查点作业。
在本发明的第七方式所涉及的防止因型腔部的偏移而引起的不良的方法中，例如，也可以如图12所示，进一步具备将基于测量出的阳定位夹具112、142的外周以及阴定位夹具122、132的内周的值而掌握的各自的形状与测量的上砂箱用托板130与上砂箱110的偏移、下砂箱用托板140与下砂箱120的偏移、或者被合箱的上砂箱110与下砂箱120的偏移中的至少一个进行比较的工序。若这样构成，则能够根据阳定位夹具以及阴定位夹具的形状与偏移的比较，来判断偏移的测量结果的妥当性。
根据本发明，具备：测量上砂箱用托板与上砂箱的偏移的工序；测量下砂箱用托板与下砂箱的偏移的工序；测量被合箱的上砂箱与下砂箱的偏移的工序；以及根据上砂箱用托板与上砂箱的偏移、下砂箱用托板与下砂箱的偏移、及被合箱的上砂箱与下砂箱的偏移，求出型腔部的偏移来判定是否在允许范围内的工序，由此能够基于上下砂箱与托板的偏移的测量、被合箱的上下砂箱的偏移的测量，求出型腔部的偏移来判定是否在允许范围内，从而防止因型腔部的偏移而引起的不良。
本申请基于2018年2月23日在日本申请的日本特愿2018-030258号，其内容作为本申请的内容，而形成本申请的一部分。
另外，本发明能够通过以下的详细的说明而进一步充分理解。然而，详细的说明以及特定的实施例是本发明的优选实施方式，仅出于说明的目的而记载。那是因为，本领域技术人员根据该详细的说明，能够明确各种变更、改变。
申请人未打算将所记载的实施方式全都公诸于众，在所公开的改变、代替方案中，可能存在词句上未包含于权利要求书的部分，但在等同原则下也视为本发明的一部分。
在本说明书或权利要求书的记载中，名词以及相同的指示语的使用只要没有特别指示，或者只要上下文没有明显否定，则应解释为包括单个以及多个双方。本说明书中所欲提供的任一例示或例示性用语(例如，“等”)的使用，也只不过是意在容易对本发明进行说明，只要权利要求书中没有特别记载，则不是对本发明的范围加以限制。
附图说明
图1是对造型生产线进行说明的俯视图。
图2是表示造型机中的刚刚形成上砂箱的造型空间的局部侧剖视图。
图3是表示造型机中的刚刚形成下砂箱的造型空间的局部侧剖视图。
图4是表示造型机中的刚要测定托板与砂箱的偏移的局部俯视图。
图5是表示刚要测定上砂箱的销(阳定位夹具)的磨损量的侧视图。
图6是表示刚要测定上砂箱的销(阳定位夹具)的磨损量的侧视图，且是从与图5正交的方向观察的图。
图7是表示刚要测定下砂箱的衬套(阴定位夹具)的磨损量的侧视图。
图8是表示刚要测定下砂箱的衬套(阴定位夹具)的磨损量的侧视图，且是从与图7正交的方向观察的图。
图9是表示利用合箱装置使上下砂箱合箱，并刚要测定上砂箱与下砂箱的偏移的侧视图。
图10是表示利用合箱装置使上下砂箱合箱，并刚要测定上砂箱与下砂箱的偏移的侧视图，且是从与图9正交的方向观察的图。
图11是表示利用合箱装置使上下砂箱合箱，并刚要测定上砂箱与下砂箱的偏移的俯视图，且是图9的A-A向视图。
图12是防止因型腔偏移而引起的不良的方法的流程图。此外，将一个流程图分割为(a)～(c)这三张来表示。
具体实施方式
以下，参照附图，对本发明的实施方式进行说明。此外，在各图中，对彼此相同或相当的装置标注相同的附图标记，省略重复的说明。首先参照图1，来说明对铸模进行造型的造型生产线的一个例子。例示的造型生产线1对带砂箱的上下铸模交替进行造型。图中，空心箭头表示铸模或砂箱的输送方向。此外，在其他图中也相同。
在造型生产线1配置有利用造型砂对铸模进行造型的造型机10、向铸模浇铸熔融金属的浇铸机30、以及在熔融金属被冷却固化而成为铸件后使铸模崩解而将铸件与造型砂分离的铸模拆卸装置40。在各装置10、30、40之间，铸模通过未图示的辊式输送机，或者载置于平板台车50而被输送。平板台车50排列在多个平行配置的轨道(未图示)上。排列为一列的平板台车50被配置在顶出侧端部的推杆52推顶，由此将排列的一列的平板台车50，即上下铸模100输送相当于一个铸模的距离。此外，在排列为一列的平板台车50的输出侧端部具备与推杆52的顶出对应地收缩的缓冲垫54，若从两侧夹持被输送的一列平板台车50，则输送中的平板台车50稳定，因此优选。
在排列为一列的平板台车50的最前头与最末尾的位置配置有用于将平板台车50移送到平行的相邻轨道(未图示)的转运车56。到达一列的最末尾的平板台车50被转运车56移送到相邻的轨道侧的最前头的位置。
在造型生产线1配置有将由造型机10造型的铸模(在该时刻为上铸模与下铸模这两个)的上下翻转(以砂箱输送方向为旋转轴进行翻转)而使型腔部朝向上方的翻转机82。在造型生产线1进一步配置有将上铸模以及下铸模的型腔相反面的多余的砂除去的刮砂器84。此外，刮砂器84也可以仅处理下铸模。在造型生产线1进一步配置有在上铸模成型浇口的浇口成型机86。在造型生产线1配置有为了使上铸模以型腔部向下的方式重叠于下铸模，而将上铸模再次翻转(以砂箱输送方向为旋转轴进行翻转)的上砂箱再次翻转机88。另外，在造型生产线1配置有合箱装置20，将下铸模载置于平板台车50，将由上砂箱再次翻转机88再次翻转的上铸模重叠于下铸模，从而形成上下铸模100。
从浇铸机30向在造型生产线1上被输送的上下铸模100进行浇铸。被浇铸的上下铸模100被输送一定的距离，在耗费一定的时间而被输送的期间，被浇铸的熔融金属冷却固化而成为铸件。熔融金属冷却固化的上下铸模100通过铸模拆卸装置40而从上砂箱与下砂箱(也统称为“砂箱”)抽出，使其崩解而取出铸件，并且将造型砂输送到砂处理装置(未图示)。对于砂箱而言，在砂箱分离装置42中，上砂箱与下砂箱被交替排列，并再次被输送到造型机10。
接下来，参照图2以及图3，对造型机10中的铸模的造型进行说明。图2是表示在造型机10内刚刚形成上砂箱110的造型空间的局部剖视图。固定有上砂箱用图案134的上砂箱用图案板136固定在上砂箱用托板130上。在其上重叠有上砂箱110。此外，在本实施方式中，上砂箱用托板130具备包围图案板136的周围且上下滑动的框状的上砂箱用调平框架138。在上砂箱用调平框架138的下部连结有多个导销139，导销139可上下滑动地插入上砂箱用托板130的主体。上砂箱用调平框架138经由导销139通过未图示的升降缸进行升降。作为上砂箱用托板130的阴定位夹具的上砂箱用托板衬套132安装于上砂箱用调平框架138。通过在上砂箱用托板衬套132插入作为上砂箱110的阳定位夹具的上砂箱销112，能够防止上砂箱用托板130与上砂箱110的位置偏移。但是，由于反复使用，所以存在上砂箱销112、上砂箱用托板衬套132磨损而产生偏移的情况。
典型地，上砂箱用托板衬套132是圆形截面的孔，上砂箱销112是越靠近前端直径越小的圆形截面的轴。优选将上砂箱销112插入上砂箱用托板衬套132，由此上砂箱销112的规定部分以不产生松动的方式嵌入上砂箱用托板衬套132。其中，上砂箱用托板衬套132与上砂箱销112的形状不限定于此，截面可以是椭圆、矩形、多边形等任意的形状，只要能向上砂箱用托板衬套132插入上砂箱销112，且以不产生松动的方式嵌合即可。另外，上砂箱用托板衬套132也可以安装于从上砂箱用托板130突出的部分。此外，这里所述的上砂箱用托板衬套132与上砂箱销112的形状也适用于其他的阴定位夹具(衬套)以及阳定位夹具(销)。
在上砂箱110的上部重叠有支框18，在支框18的内部插入有挤压板16。在挤压板16形成有砂填充喷嘴14，能够将挤压板16上方的砂填充料斗19内的造型砂(未图示)供给到上砂箱110的造型空间内。若向上砂箱110的造型空间供给造型砂，则挤压板16下降，而在与上砂箱用图案板136之间挤压造型砂，对铸模进行造型。此时，上砂箱用图案134的部分成为空隙，形成在使上砂箱110与下砂箱120合箱时成为制品的部分(上铸模的型腔部)，通过向该部分浇铸熔融金属而制造铸件。此外，具有下述优点：在挤压时，上砂箱用调平框架138下降，由此造型砂也从上砂箱用图案板136侧被挤压。
图3是表示在造型机10内刚刚形成下砂箱120的造型空间的局部剖视图。固定有下砂箱用图案144的下砂箱用图案板146固定在下砂箱用托板140上。在其上重叠有下砂箱120。与上砂箱用托板130同样，下砂箱用托板140具备框状的下砂箱用调平框架148，连结多个导销149而进行升降。作为下砂箱用托板140的阳定位夹具的下砂箱用托板销142固定于下砂箱用调平框架148。通过将下砂箱用托板销142插入作为下砂箱120的阴定位夹具的下砂箱衬套122，能够防止下砂箱用托板140与下砂箱120的位置偏移，但存在如上所述产生偏移的情况。
在下砂箱120的上部重叠有支框18，在支框18的内部插入有挤压板16。在挤压板16形成有砂填充喷嘴14，能够将挤压板16上方的砂填充料斗19内的造型砂(未图示)供给到下砂箱120的造型空间内。若向下砂箱120的造型空间供给造型砂，则挤压板16下降，而在与下砂箱用图案板146之间挤压造型砂，对铸模进行造型。此时，下砂箱用图案144的部分成为空隙，形成在使上砂箱110与下砂箱120合箱时成为制品的部分(下铸模的型腔部)，通过向该部分浇铸熔融金属而制造铸件。此外，具有下述优点：在挤压时，下砂箱用调平框架148下降，由此造型砂也从下砂箱用图案板146侧被挤压。在造型机10中，交替地对上铸模与下铸模进行造型。
在造型机10配置有用于检测上砂箱用托板130与上砂箱110、或者下砂箱用托板140与下砂箱120的偏移的传感器12。用作传感器12的传感器可以是激光位移传感器、红外线位移传感器、接触式位移传感器等公知的位移传感器。由于图案的位置的测定较困难，所以测定托板与砂箱的位置，来作为图案与砂箱的偏移。上砂箱用托板130与上砂箱110、或者下砂箱用托板140与下砂箱120的偏移的检测通常在造型前进行，但也可以在挤压后检测偏移。也存在托板与砂箱因挤压而偏移的可能性。若在挤压的前后测定偏移，则可知上下砂箱用托板衬套132及销142、上下砂箱的销112及衬套122中的任一方或双方磨损。
如图4的俯视图所示，传感器12配置三台为砂箱用。同样也配置三台为托板用。此外，三台传感器上下移动，也可以测定砂箱与托板双方。通过各配置三台传感器12，能够测定直至砂箱或托板为止的三点的距离。这里，由于三个位移传感器12的坐标是已知的，所以能够获得砂箱的三点的坐标与托板的三点的坐标。由于砂箱与托板的形状分别是已知的，所以若获得三点的坐标，则能够推算各自的中心位置与水平方向的旋转角。能够根据推算出的中心位置与水平方向的旋转角的偏移、或者由中心位置与水平方向的旋转角而推算出的砂箱与托板的拐角点的坐标的偏移，来判定砂箱与托板的偏移。而且，由于砂箱的形状与托板的形状是已知的，所以能够准确地测量出砂箱与托板的偏移。
砂箱与托板通过上砂箱销112插入上砂箱用托板衬套132，另外，通过下砂箱用托板销142插入下砂箱衬套122，防止产生偏移。但是，由于反复使用，所以存在上砂箱销112、上砂箱用托板衬套132、下砂箱用托板销142、下砂箱衬套122磨损而产生偏移的情况。
因此，测量销、衬套的磨损。图5以及图6是表示利用销磨损量测量装置60刚要测量上砂箱销112的磨损量的侧视图。上砂箱销112通常在上砂箱110具备两根，因此这里，利用两台销磨损量测量装置60测量两根上砂箱销112的磨损量，但销的数量不局限于两根，从而销磨损量测量装置60的数量也不局限于两台。在销磨损量测量装置60中，例如上砂箱销112位于上部被敞开的传感器保持件64内。优选上砂箱销112与传感器保持件64位于同心的位置。在传感器保持件64的规定的高度处设置有测量上砂箱销112的表面的坐标的传感器62。这里，规定的高度是指测量上砂箱销112与上砂箱用托板衬套132或下砂箱衬套122嵌合的部分的高度。在图6中，在一个传感器保持件64示出两个传感器62，但传感器62的数量可以是一个，也可以是三个以上。用作传感器62的传感器可以是激光位移传感器、红外线位移传感器、接触式位移传感器等公知的位移传感器。传感器保持件64支承于旋转致动器66，并以上砂箱销112为中心进行旋转。旋转致动器66由测量装置保持件68固定。
根据销磨损量测量装置60，由于传感器保持件64以上砂箱销112为中心进行旋转，从而能够利用传感器62测定上砂箱销112外表面的整周的坐标。即，能够测定上砂箱销112的整周的磨损量。因此，例如将最大磨损量作为上砂箱销112的磨损量。或者，也可以使用测定出的磨损量的平均值或任意位置的磨损量。测量出的磨损量优选与上砂箱110关联地存储。
图7以及图8是表示利用衬套磨损量测量装置70刚要测量下砂箱120的下砂箱衬套122的磨损量的侧视图。这里，下砂箱衬套122与上砂箱销112对应地具备两个，衬套磨损量测量装置70也具备两台，但衬套的数量不局限于两个，从而衬套磨损量测量装置70的数量也不局限于两台。在衬套磨损量测量装置70中，用于测量下砂箱衬套122的内表面的传感器72支承于传感器保持部74。用作传感器72的传感器可以是激光位移传感器、红外线位移传感器、接触式位移传感器等公知的位移传感器。使用位移传感器，因此配置于下砂箱衬套122的斜下方的传感器72测量斜上方的下砂箱衬套122的内表面。传感器保持部74支承于旋转致动器76，并以下砂箱衬套122为中心进行旋转。即，旋转致动器76通过测量装置保持件78固定于下砂箱衬套122的正下方。
根据衬套磨损量测量装置70，由于传感器保持件74以下砂箱衬套122为中心进行旋转，从而能够利用传感器72测定下砂箱衬套122内表面的整周的坐标。即，能够测定下砂箱衬套122的整周的磨损量。因此，例如将最大磨损量作为下砂箱衬套122的磨损量。或者，也可以使用测定出的磨损量的平均值或任意位置的磨损量。测量出的磨损量优选与下砂箱120关联地存储。
上砂箱销112的磨损量、下砂箱衬套122的磨损量的测量可以在图1所示的砂箱的位置P1以及P2进行。即，销磨损量测量装置60以及衬套磨损量测量装置70也可以配置于造型机10的上游侧。
关于下砂箱用托板140，利用与使用图5以及图6说明的上砂箱销112相同的方法，测量下砂箱用托板销142的磨损量。另外，关于上砂箱用托板130，利用与使用图7以及图8说明的下砂箱衬套122相同的方法，测量上砂箱用托板衬套132的磨损量。下砂箱用托板销142以及上砂箱用托板衬套132的磨损量的测量也可以在图1所示的铸模的流程之外(造型机10之外)，即，在将上砂箱用托板130以及下砂箱用托板140搬入造型机10前进行。测量出的磨损量优选与下砂箱用托板140或上砂箱用托板130关联地存储。
图9以及图10表示利用合箱装置20刚要使上砂箱与下砂箱合箱。由造型机10交替造型的上砂箱与下砂箱在被翻转机82、刮砂器84、浇口成型机86以及上砂箱再次翻转机88处理后，被合箱装置20合箱。在合箱装置20中，通过升降器22，在载置在转运车56上的平板台车50上，载置使型腔部朝向上方的内置下铸模的下砂箱120。接下来，通过升降器22，将通过上砂箱再次翻转机88使型腔部朝向下方的内置上铸模的上砂箱110重叠在下砂箱120上。通过将作为上砂箱110的阳定位夹具的上砂箱销112插入作为下砂箱120的阴定位夹具的下砂箱衬套122，由此防止上砂箱110与下砂箱120的位置偏移。但是，由于反复使用，存在上砂箱销112或下砂箱衬套122磨损而产生偏移的情况。
因此，在合箱装置20配置有用于检测上砂箱110与下砂箱120的偏移的传感器26。用作传感器26的传感器可以是激光位移传感器、红外线位移传感器、接触式位移传感器等公知的位移传感器。传感器26以上下两层保持在传感器保持件28。传感器保持件28支承于架台24。但是，通过一层传感器26上下升降，也可以测定上砂箱110与下砂箱120。在这种情况下，只要将传感器保持件28构成为相对于架台24进行升降即可。
如图11的俯视图所示，传感器26配置三台为上砂箱110用。同样也配置三台为下砂箱120用。此外，三台传感器上下移动，也可以测定上砂箱110与下砂箱120双方。通过各配置三台传感器26，能够测定直至上砂箱110或下砂箱120为止的三点的距离。这里，由于三个位移传感器26的坐标是已知的，因此能够获得上砂箱110的三点的坐标与下砂箱120的三点的坐标。由于上砂箱110与下砂箱120的形状分别是已知的，因此若获得三点的坐标，则能够推算各自的中心位置与水平方向的旋转角。能够根据推算出的中心位置与水平方向的旋转角的偏移、或者由中心位置与水平方向的旋转角而推算出的上砂箱110与下砂箱120的拐角点的坐标的偏移，来判定上砂箱110与下砂箱120的偏移。而且，由于上砂箱110与下砂箱120的形状是已知的，因此能够准确地测量出上砂箱110与下砂箱120的偏移。
接下来，参照图12的流程图，对型腔部的偏移的推定与因偏移而引起的不良的防止方法进行说明。此外，将一个流程图分割为(a)～(c)这三张，用由圆圈包围的数字表示连接的点。首先，如使用图5～图8说明的那样，测量上砂箱销112、下砂箱衬套122、上砂箱用托板衬套132以及下砂箱用托板销142的磨损量(S11)。测量出的磨损量与上砂箱110、下砂箱120、上砂箱用托板130以及下砂箱用托板140关联地存储。例如，存储于造型生产线用的控制装置(未图示)。
接下来，如使用图2～图4说明的那样，在造型机10中测量上砂箱110与上砂箱用托板130的偏移X、Y(X、Y是正交的水平两个方向上的偏移)以及下砂箱120与下砂箱用托板140的偏移X’、Y’(X’、Y’是正交的水平两个方向上的偏移)(S12)。接下来，如使用图9～图11说明的那样，在合箱装置20中测量被合箱的上砂箱110与下砂箱120的以下砂箱120为基准的上砂箱110的偏移x、y(x、y是正交的水平两个方向上的偏移)(S13)。此外，例如，作为偏移X、Y、X’、Y’、x、y，能够使用拐角点的坐标的偏移，即四个拐角点的坐标的偏移的最大值或平均值，或者四个拐角点中的任意拐角点的偏移。
接下来，判定偏移是否在允许范围内(S14)。因此，判定是否满足|(X－X’)－x|≤0.3、|(Y+Y’)－y|≤0.3。这里，右边的0.3表示作为偏移的允许值的0.3mm。但是，允许值由铸件的形状、大小、用途等决定，不限定于0.3mm。此外，(X－X’)以下砂箱120与下砂箱用托板140的偏移X’为基准，来推算和上砂箱110与上砂箱用托板130的偏移X的差。若上砂箱110(即上砂箱用型腔部)相对于上砂箱用托板130的偏移的方向与下砂箱120(即下砂箱用型腔部)相对于下砂箱用托板140的偏移的方向相同，则结果在合箱时，型腔部的偏移抵消。因此，使在上砂箱110与上砂箱用图案134产生的偏移X和在下砂箱120与下砂箱用图案144产生的偏移X’的差成为型腔部的偏移。此外，在本实施方式中，由于下砂箱120不进行再次翻转，因此X’的方向(上砂箱110与下砂箱120向砂箱输送方向偏移的方向)不发生变化，但关于Y’的方向(上砂箱110与下砂箱120向与砂箱输送方向正交的方向偏移的方向)，由于在上砂箱110与下砂箱120中偏移的方向为相反方向，因此使用在上砂箱110与上砂箱用图案134产生的偏移Y以及在下砂箱120与下砂箱用图案144产生的偏移Y’的和。无论哪个，都能够求出上下砂箱用图案134、144与上下砂箱110、120的偏移。而且，作为|(X－X’)－x|、|(Y+Y’)－y|，从上下砂箱用图案134、144与上下砂箱110、120的偏移中减去上砂箱110与下砂箱120的偏移x、y，求出型腔部的偏移的绝对值。判定该偏移是否在允许值0.3mm的范围内。
这样一来，将上下砂箱110、120与上下砂箱用图案134、144的偏移的测量结果、和上砂箱110与下砂箱120的偏移的测量结果合并，求出型腔部的偏移，从而能够判定因型腔部的偏移而引起的不良的产生。即，与仅根据合箱状态下的上砂箱110与下砂箱120的偏移来判定的情况相比，不良的产生的判定的可靠性提高，不会在实际未成为不良的情况下也判定为不良而导致产生较多的浪费。
接下来，参照图12(b)，对在之前的判定中判定为没有偏移的情况下的处理进行说明。由于没有偏移，因此如通常那样对铸模进行浇铸(S20)。然后，判定上砂箱110的销112以及下砂箱120的衬套122的磨损量是否在允许范围内(0.3mm以下)(S21)。在即使上下砂箱110、120中没有偏移，销112或衬套122的磨损量也超过允许范围的情况下，将更换指示显示于面板等(S22)。接下来，判定托板130的衬套132以及托板140的销142的磨损量是否在允许范围内(0.3mm以下)(S23)。在即使上下砂箱110、120中没有偏移，衬套132或销142的磨损量也超过允许范围的情况下，将更换指示显示于面板等(S24)。
将上砂箱110的销112的磨损量与上砂箱110关联(作为上砂箱110的移位数据)，将下砂箱120的衬套122的磨损量与下砂箱120关联(作为下砂箱120的移位数据)，将上砂箱用托板130的衬套132的磨损量与上砂箱用托板130关联(作为上砂箱用托板130的移位数据)，将下砂箱用托板140的销142的磨损量与下砂箱用托板140关联(作为下砂箱用托板140的移位数据)地进行存储(S25)。此外，这里，“移位数据”是包含与各独立的上砂箱、下砂箱、上砂箱用托板、下砂箱用托板相关的数据的数据，是指在各自每次移动时，其数据也随着移动而偏移(移位)的数据，即，是与独立的上砂箱、下砂箱、上砂箱用托板、下砂箱用托板相关联的数据。这样，通过针对每个独立的上砂箱、下砂箱、上砂箱用托板、下砂箱用托板管理磨损量，从而能够在造型生产线1等的维护时，迅速地更换磨损的部件。因此，能够高效地进行更换以及查点作业。然后，继续进行下个循环，即、接下来的造型(S26)。
接下来，参照图12(c)，对在之前的判定中判定为存在偏移的情况下的处理进行说明。首先，虽在型腔部存在偏移，但判断是否进行浇铸(S30)。根据情况，存在即使偏移也进行浇铸的情况，在浇铸的情况下，发出铸件的精密制品检查指示(S32)，而精密地检查作为铸件制品来使用是否没有问题。另外，在没有进行浇铸的情况下，铸模缺少一个，因此向造型机10发出追加造型指示(S31)。
判定上砂箱110的销112以及下砂箱120的衬套122的磨损量是否在允许范围内(0.3mm以下)(S34)。在销112或衬套122的磨损量超过允许范围的情况下，将更换指示显示于面板等(S35)。接下来，判定托板130的衬套132以及托板140的销142的磨损量是否在允许范围内(0.3mm以下)(S36)。在销142或衬套132的磨损量超过允许范围的情况下，将更换指示显示于面板等(S37)。
接着，判定上述的销112及衬套122的磨损量、销142及衬套132的磨损量中的任一方是否也在允许范围内(判定为是)(S38)。在销112或衬套122的磨损量以及销142或衬套132的磨损量超过允许范围的情况(“否”的情况)下，推定销或衬套的磨损是型腔部的偏移的原因。已经将销、衬套的更换显示显示于面板等，从而唤起作业人员的必要的注意。
在销112及衬套122的磨损量与销142及衬套132的磨损量中的任一方或者双方在允许范围内的情况(在S38中为“是”的情况)下，也认为仅该铸模因特殊的原因(例如，不均匀磨损时)、或者偶然偏移。因此，判定这样的现象是否在同一砂箱或同一托板上屡次产生(S39)。即，判定在同一砂箱或同一托板上通过该路径的次数例如是否累积10次以下。在超过10次的情况(在S39中为“否”的情况)下，认为是该砂箱或托板的销或衬套存在缺陷的情况，因此将砂箱或托板的销以及衬套的查点、更换指示显示于面板(S40)。
此外，判定在同一砂箱或同一托板中是否屡次产生，也可以不根据累积次数，而根据连续的次数进行判定。或者，也可以是在同一砂箱或同一托板中通过该路径的比例，例如在通过该路径的次数超过造型次数的10％的情况下，将销、衬套的查点、更换指示显示于面板。另外，累积次数10次、比例10％等是例示，也可以是其他值。
接下来，与上述同样地，将砂箱、托板的销、衬套的磨损量的测量结果作为移位数据进行存储。由此，能够迅速地掌握成为维护时的更换、查点对象的砂箱、托板，从而能够高效地进行查点、更换作业(S41)。然后，继续进行下个循环，即、接下来的造型(S42)。
此外，如使用图5～图8说明的那样，由于测定上砂箱销112、下砂箱衬套122、上砂箱用托板衬套132以及下砂箱用托板销142的整周，因此能够掌握销以及衬套的形状。因此，例如，虽然销以及衬套实际没有磨损，但能够判断是否未测量到大的偏移。在这种情况下，认为是销磨损量测量装置60或衬套磨损量测量装置70的异常。或者，也可以认为是测量偏移的传感器12、26的安装部的异常等。如上，进一步具备将销以及衬套的形状与测量的偏移进行比较的工序是有效的。此外，在至此的说明中，对砂箱与托板以及上下砂箱通过销与衬套来防止偏移的情况进行了说明，但也可以利用其他的公知的方法(例如，凸型衬套与凹型衬套)来防止偏移。
根据本发明的推定型腔部的偏移来防止因偏移而引起的不良的方法，能够基于砂箱与上下砂箱用图案载体的偏移、以及上砂箱与下砂箱的偏移的测量结果，求出型腔部的偏移，来判定因型腔部的偏移而引起的不良的产生，因此不良的产生的判定的可靠性提高，从而能够减少造型的浪费。另外，由于将销以及衬套的磨损量作为移位数据进行管理，因此能够迅速且高效地更换磨损的部件，由此，能够使造型生产线高效地运转。
附图标记说明
以下，将在本说明书以及附图中使用的主要的附图标记集中示出。
1…造型生产线；10…造型机；12…传感器；14…砂填充喷嘴；16…挤压板；18…支框；19…砂填充料斗；20…合箱装置；22…升降器；24…架台；26…传感器；28…传感器保持件；30…浇铸机；40…铸模拆卸装置；42…砂箱分离装置；50…平板台车；52…推杆；54…缓冲垫；56…转运车；60…销磨损量测量装置；62…传感器；64…传感器保持件；66…旋转致动器；68…测量装置保持件；70…衬套磨损量测量装置；72…传感器；74…传感器保持件；76…旋转致动器；78…测量装置保持件；82…翻转机；84…刮砂器；86…浇口成型机；88…上砂箱再次翻转机；100…上下铸模；110…上砂箱；112…上砂箱销(阳定位夹具)；120…下砂箱；122…下砂箱衬套(阴定位夹具)；130…上砂箱用托板；132…上砂箱用托板衬套(阴定位夹具)；134…上砂箱用图案；136…上砂箱用图案板；138…上砂箱用调平框架；139…导销；140…下砂箱用托板；142…下砂箱用托板销(阳定位夹具)；144…下砂箱用图案；146…下砂箱用图案板；148…下砂箱用调平框架；149…导销。
