一种测试用的继电器板
技术领域
本发明涉及测试设备领域，特别涉及一种测试用的继电器板。
背景技术
在电动汽车领域，免不了需要对电芯、电池模组进行测试操作。测试设备在连接被测对象进行测试的过程中，继电器作为保护元器件，被广泛应用于测试设备中。
然而，现有的测试设备在具体进行测试的过程中，存在有以下缺陷：1、测试设备的每1个测试通道需要1个中间继电器，若测试通道较多，使用的继电器数量会很多；而每1个继电器又都需要使用1个PLC的IO点，若继电器数量多，PLC的输出模块也会很多；2、测试设备空间有限，可放置的继电器和输出模块的数量会受到限制。
发明内容
本发明要解决的技术问题，在于提供一种测试用的继电器板，解决现有测试设备在测试时存在的需要使用数量较多的继电器和输出模块的问题。
本发明是这样实现的：一种测试用的继电器板，所述继电器板包括：
一电路板本体；
一内阻仪端口，所述内阻仪端口集成于所述电路板本体上；
一PLC控制端口，所述PLC控制端口集成于所述电路板本体上；
一电子继电器，所述电子继电器集成于所述电路板本体上，所述内阻仪端口与所述电子继电器相连接；
一模拟开关，所述模拟开关集成于所述电路板本体上，所述电子继电器以及PLC控制端口均与所述模拟开关相连接；
一固态继电器组，所述固态继电器组集成于所述电路板本体上，所述电子继电器以及模拟开关均与所述固态继电器组相连接；
一牛角插座，所述牛角插座集成于所述电路板本体上，所述牛角插座与所述固态继电器组相连接；
一电源模块，所述电源模块集成于所述电路板本体上，所述电源模块为所述电子继电器以及模拟开关提供电源。
进一步的，所述继电器板还包括：
一光电隔离芯片组，所述光电隔离芯片组集成于所述电路板本体上，所述光电隔离芯片组与所述固态继电器组相连接，且通过所述电源模块为所述光电隔离芯片组提供电源；
一发光二极管组，所述发光二极管组集成于所述电路板本体上，所述发光二极管组与所述固态继电器组相连接，且通过所述电源模块为所述发光二极管组提供电源。
进一步的，所述固态继电器组包括32个固态继电器，所述光电隔离芯片组包括32个光电隔离芯片，所述发光二极管组包括32个发光二极管；每所述光电隔离芯片均与一所述固态继电器相连接，每所述发光二极管均与一所述固态继电器相连接；在工作时，通过所述模拟开关选择连接对应的测试通道上的所述固态继电器。
进一步的，所述继电器板还包括：
一电容，所述电容集成于所述电路板本体上，所述电容与所述电源模块相连接；
一电感，所述电感集成于所述电路板本体上，所述电感与所述电源模块相连接；在工作时，通过所述电容和电感对所述电源模块提供的电源进行滤波。
进一步的，所述模拟开关为16选1模拟开关。
进一步的，所述内阻仪端口包括IR+输入端口、IR-输入端口、IRO+输入端口以及IRO-输入端口。
进一步的，所述PLC控制端口包括EN使能输出端口、CSN1输出端口、CSN2输出端口、RSN1输出端口以及RSN2输出端口。
进一步的，所述牛角插座为40Pin牛角插座。
本发明具有如下优点：通过本发明的技术方案能够实现在测试设备中用少量的PLC输出点位切换多路继电器，解决以往单机测试设备在使用多个测试通道的情况下，需要大量使用PLC输出模块和继电器，导致占用大量的布板空间、线束密集等问题；具体优点包括：PLC控制器仅使用5个输出点即可控制16个测试通道，不仅可以减少PLC输出模块和继电器的使用数量，而且仅使用1个继电器板就可以实现，能够减少元器件占用的空间，为测试设备的整体框架设计提供便利。
附图说明
下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的说明。
图1为本发明一种测试用的继电器板的电路原理框图。
图2为本发明一种测试用的继电器板在测试时的连接示意图。
图3为本发明中固态继电器组的连接示意图。
图4为本发明中内阻仪端口的结构示意图。
图5为本发明中PLC控制端口的结构示意图。
图6为本发明一种测试用的继电器板的布局示意图。
附图标记说明：
100-继电器板，200-内阻仪，300-PLC控制器，400-测试探针，1-电路板本体，2-内阻仪端口，21-IR+输入端口，22-IR-输入端口，23-IRO+输入端口，24-IRO-输入端口，3-PLC控制端口，31-EN使能输出端口，32-CSN1输出端口，33-CSN2输出端口，34-RSN1输出端口，35-RSN2输出端口，4-电子继电器，5-模拟开关，6-固态继电器组，61-固态继电器，7-牛角插座，8-电源模块，9-光电隔离芯片组，91-光电隔离芯片，10-发光二极管组，101-发光二极管，11-电容，12-电感。
具体实施方式
本发明实施例通过提供一种测试用的继电器板，解决了现有测试设备在测试时存在的需要使用数量较多的继电器和输出模块的的技术问题，实现了不仅可以减少PLC输出模块和继电器的使用数量，而且仅使用1个继电器板就可以实现，能够减少元器件占用的空间，为测试设备的整体框架设计提供便利的技术效果。
本发明实施例中的技术方案为解决上述问题，总体思路如下：通过电子继电器来将内阻仪的4路输入信号分别连接至固态继电器组的触点上，通过模拟开关来将PLC控制器的4个输入译码成16路并分别选通固态继电器组上的线圈，并通过固态继电器组实现将来自电子继电器的输入信号接通至电芯的测试探针上，进而实现对电芯进行测试。
为了更好地理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
请参阅图1至图6所示，本发明一种测试用的继电器板100的较佳实施例，所述继电器板100包括：
一电路板本体1；
一内阻仪端口2，所述内阻仪端口2集成于所述电路板本体1上；所述内阻仪端口2用于在具体进行测试时可以连接内阻仪200，以通过内阻仪200来测量电芯(未图示)的内阻；
一PLC控制端口3，所述PLC控制端口3集成于所述电路板本体1上；所述PLC控制端口3用于在具体进行测试时可以连接PLC控制器300，以通过PLC控制器300输入控制信号选通所述固态继电器组6上的线圈；
一电子继电器4，所述电子继电器4集成于所述电路板本体1上，所述内阻仪端口2与所述电子继电器4相连接；所述电子继电器4用于将所述内阻仪端口2的4路输入信号分别接通所述固态继电器组6上的触点；
一模拟开关5，所述模拟开关5集成于所述电路板本体1上，所述电子继电器4以及PLC控制端口3均与所述模拟开关5相连接；所述模拟开关5用于将来自所述PLC控制端口3的4个输入(使能输入除外的4个输入)译码成16路并分别选通所述固态继电器组6的线圈；在具体工作时，需由所述电子继电器4与模拟开关5共同作用来实现“译码”功能，即选择具体的测试通道；
一固态继电器组6，所述固态继电器组6集成于所述电路板本体1上，所述电子继电器4以及模拟开关5均与所述固态继电器组6相连接；所述固态继电器组6用于实现将来自所述电子继电器4的输入信号接通至电芯的测试探针400上；
一牛角插座7，所述牛角插座7集成于所述电路板本体1上，所述牛角插座7与所述固态继电器组6相连接；所述牛角插座7用于在具体进行测试时可以接通电芯的测试探针400；
一电源模块8，所述电源模块8集成于所述电路板本体1上，所述电源模块8为所述电子继电器4以及模拟开关5提供电源。
在本实施例中，所述继电器板100还包括：
一光电隔离芯片组9，所述光电隔离芯片组9集成于所述电路板本体1上，所述光电隔离芯片组9与所述固态继电器组6相连接，且通过所述电源模块8为所述光电隔离芯片组9提供电源；在工作时，所述光电隔离芯片组9用于实现对所述固态继电器组6的输入进行光电隔离；
一发光二极管组10，所述发光二极管组10集成于所述电路板本体1上，所述发光二极管组10与所述固态继电器组6相连接，且通过所述电源模块8为所述发光二极管组10提供电源；在工作时，所述发光二极管组10用于指示所述固态继电器组6中接通的线圈。
请重点参照图3所示，在本实施例中，所述固态继电器组6包括32个固态继电器61，所述光电隔离芯片组9包括32个光电隔离芯片91，所述发光二极管组10包括32个发光二极管101；每所述光电隔离芯片91均与一所述固态继电器61相连接，每所述发光二极管101均与一所述固态继电器61相连接；在工作时，通过所述模拟开关5选择连接对应的测试通道上的所述固态继电器61。
在本实施例中，所述继电器板100还包括：
一电容11，所述电容11集成于所述电路板本体1上，所述电容11与所述电源模块8相连接；
一电感12，所述电感12集成于所述电路板本体1上，所述电感12与所述电源模块8相连接；在工作时，通过所述电容11和电感12对所述电源模块8提供的电源进行滤波。
在本实施例中，所述模拟开关为16选1模拟开关，以实现将所述PLC控制端口3的4个输入译码成16路并分别选通所述固态继电器组6的线圈。
在本实施例中，所述内阻仪端口2包括IR+输入端口21、IR-输入端口22、IRO+输入端口23以及IRO-输入端口24。在具体实施时，所述IR+输入端口21用于与内阻仪200的SOURCE-H相连接，所述IR-输入端口22用于与内阻仪200的SOURCE-L相连接，所述IRO+输入端口23用于与内阻仪200的SENSE-H相连接，所述IRO-输入端口24用于与内阻仪200的SENSE-L相连接。
在本实施例中，所述PLC控制端口3包括EN使能输出端口31、CSN1输出端口32、CSN2输出端口33、RSN1输出端口34以及RSN2输出端口35。
在本实施例中，所述牛角插座7为40Pin牛角插座。
本发明所述继电器板100的工作原理如下：
请重点参照图2所示，在进行测试时，需要通过所述牛角插座7将待测试的16个电芯与所述固态继电器组6对接起来，每个测试通道分配两个所述固态继电器61；将内阻仪200的采样线和校正线通过所述内阻仪端口2与所述电子继电器4进行对接，进而通过所述模拟开关5实现与各个测试通道上的所述固态继电器61进行连接；同时，将PLC控制器300通过所述PLC控制端口3与所述模拟开关5进行对接，以通过PLC控制器300控制所述模拟开关5进行“译码”选择测试通道进行测试；在具体实施时，PLC控制器300可以根据以下表1来发送控制信号选通对应的测试通道进行测试操作。当PLC控制器300根据需要测试的电芯输出对应的点位至所述继电器板100选通对应的通道后，内阻仪200的测试线可以通过所述继电器板100接触到电芯的正负极，从而实现对电芯进行测试；在表1中，1代表高电平，0代表低电平，X代表不在乎。
表1通道选择表
通过本发明的技术方案能够实现在测试设备中用少量的PLC输出点位切换多路继电器，解决以往单机测试设备在使用多个测试通道的情况下，需要大量使用PLC输出模块和继电器，导致占用大量的布板空间、线束密集等问题；具体优点包括：PLC控制器仅使用5个输出点即可控制16个测试通道，不仅可以减少PLC输出模块和继电器的使用数量，而且仅使用1个继电器板就可以实现，能够减少元器件占用的空间，为测试设备的整体框架设计提供便利。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是熟悉本技术领域的技术人员应当理解，我们所描述的具体的实施例只是说明性的，而不是用于对本发明的范围的限定，熟悉本领域的技术人员在依照本发明的精神所作的等效的修饰以及变化，都应当涵盖在本发明的权利要求所保护的范围内。
