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一种温度传感器

2023-03-19 03:19:14

一种温度传感器

  技术领域

  本发明涉及温度检测技术领域,特别是涉及一种温度传感器。

  背景技术

  温度是科学技术中最基本的物理量之一,物理、化学、热力学、飞行力学、流体力学等学科都离不开温度,它也是工业生产中最普遍最重要的参数之一。许多化学反应离开合适的温度就不能正常进行甚至不能进行。没有合适的温度炉窑就不能炼制出合格的产品。没有合适的温度环境,农作物就不能正常生长、许多电子仪器就不能正常工作、粮仓的储粮就会变质霉烂、家禽的孵化也不能进行。可见,温度的测量与控制十分重要。

  而现有的温度测量装置一般结构复杂,成本高,测量精度也往往不尽人意。

  发明内容

  本发明的目的是提供一种温度传感器,以降低工业成本,提高测量精准度。

  为实现上述目的,本发明提供了如下方案:

  一种温度传感器,包括激光器、探测器、光纤和磁流体;所述激光器和所述探测器设置在所述光纤两端;所述磁流体设置在所述光纤内。

  可选地,还包括第一玻璃板和第二玻璃板,所述第一玻璃板和所述第二玻璃板设置在所述光纤内;所述磁流体填充在所述第一玻璃板和所述第二玻璃板之间。

  可选地,所述第一玻璃板中心的厚度小于所述第一玻璃板边缘的厚度,所述第二玻璃板中心的厚度小于所述第二玻璃板边缘的厚度。

  可选地,还包括第一热膨胀层和第二热膨胀层,所述第一热膨胀层和所述第二热膨胀层设置在所述光纤内;所述磁流体填充在所述第一热膨胀层和所述第二热膨胀层之间。

  可选地,所述第一热膨胀层中心的热膨胀系数小于所述第一热膨胀层边缘的热膨胀系数,所述第二热膨胀层中心的热膨胀系数小于所述第二热膨胀层边缘的热膨胀系数。

  根据本发明提供的具体实施例,本发明公开了以下技术效果:

  本发明公开了一种温度传感器,包括激光器、探测器、光纤和磁流体;所述激光器和所述探测器设置在所述光纤两端;所述磁流体设置在所述光纤内。本发明结构简单,并且通过磁流体在不同温度下对激光的折射率不同来测量温度,测量精度高。

  附图说明

  为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

  图1为本发明实施例1提供的温度传感器结构图;

  图2为本发明实施例2提供的玻璃板中心与边缘厚度不同时的温度传感器结构图。

  符号说明:

  1-激光器,2-光纤,3-磁流体,4-探测器,5-第一玻璃板,6-第二玻璃板。

  具体实施方式

  下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

  本发明的目的是提供一种温度传感器,以降低工业成本,提高测量精准度。

  为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

  实施例1

  图1为本发明实施例1提供的温度传感器结构图,如图1所示,本温度传感器包括:包括激光器1、探测器4、光纤2和磁流体3。激光器1和探测器4设置在光纤2两端。磁流体3设置在光纤2内。

  本发明原理如下:

  使用时,激光器1发出激光沿光纤2传输,在检测温度时,磁流体3受热内部磁性粒子会重新分布,磁流体3的折射率发生变化,由于内外受热不均匀,磁流体3内部会形成一个沿半径向下的温度下降梯度,磁流体3沿半径的折射率也不会不同。也就是说温度不同时,磁流体3中心和边缘对激光的折射率变化程度不同。激光透过磁流体3后会形成同心圆环状的干涉光谱,通过探测器4检测该干涉光谱就可以得到温度变化,进而测出温度。

  实施例2

  与实施例1不同的是,本实施例中温度传感器还包括第一玻璃板5和第二玻璃板6,第一玻璃板5和第二玻璃板6设置在光纤2内。磁流体3填充在第一玻璃板和第二玻璃板之间。其中,第一玻璃板5中心的厚度小于第一玻璃板4边缘的厚度,第二玻璃板6中心的厚度小于第二玻璃板6边缘的厚度。

  在这样的设置方式下,磁流体3中心厚度会比边缘厚度厚,边缘受热会更明显,因此磁流体3中心和边缘的折射率差距更大,得到的干涉光谱变化更明显,检测精度也会更高。图2为本发明实施例2提供的玻璃板中心与边缘厚度不同时的温度传感器结构图。

  实施例3

  与实施例1不同的是,本实施例中温度传感器还包括第一热膨胀层和第二热膨胀层,第一热膨胀层和第二热膨胀层设置在光纤2内。磁流体3填充在第一热膨胀层和第二热膨胀层之间。

  当温度变化时,热膨胀层受热膨胀,磁流体3的厚度也会发生变化,对产生的干涉光谱也会发生影响,测出温度。

  在本实施例中,第一热膨胀层中心的热膨胀系数小于第一热膨胀层边缘的热膨胀系数,第二热膨胀层中心的热膨胀系数小于第二热膨胀层边缘的热膨胀系数。由于热膨胀层中心热膨胀系数小,边缘热膨胀系数大,在受热膨胀时,会使磁流体形状变为中间厚两边薄,达到实施例2中的技术效果即检测精度会更高。

  根据本发明提供的具体实施例,本发明公开了以下技术效果:

  本发明结构简单,而且利用磁流体受热折射率变化敏感的特性,其中心和边缘受温度影响不一样,折射率变化程度也不一样来检测温度,检测精度高。

  本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

  本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

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