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一种中子探测器快速检验装置

2021-02-10 17:40:25

一种中子探测器快速检验装置

  技术领域

  本发明属于乏燃料后处理技术领域,具体涉及一种中子探测器快速检验装置。

  背景技术

  乏燃料又称辐照核燃料,是经受过辐射照射、使用过的核燃料,通常是由核电站的核反应堆产生。把已经使用的3%-4%的铀废料(乏燃料),以化学方法将铀和钚从裂变产物中分离出来,称为乏燃料再溶解和后处理技术。回收的铀和钚可在核电厂混合氧化物燃料中再循环使用,以生产更多能量,从而使铀资源得到更充分利用并减少浓缩需求。后处理也通过减少高放废物的体积和去除钚有助于废物的最终处置。

  在后处理工厂中普遍使用的效果良好的溶剂萃取设备有混合澄清槽和脉冲萃取柱。脉冲萃取柱中钚溶液的浓度是关注的重点对象之一,直接反应了后处理厂的运行工艺状态。如图1所示,目前对脉冲萃取柱中钚溶液浓度的监测方法主要是在设备室内靠近脉冲萃取柱放置一个串联探测装置进行测量,串联探测装置由若干个中子探测器串联组成,放置在一个套管内,串联探测装置可以从套管内进出。该串联探测装置中的中子探测器需要定期进行检验,如何方便、快捷的对该串联探测装置进行检验是研究的重点之一。

  发明内容

  本发明的目的是提供一种检测装置,能够对串联探测装置中的每个中子探测器进行快速的检验,从而使中子中子探测器的测量结果更加准确。

  为达到以上目的,本发明采用的技术方案是一种中子探测器快速检验装置,用于对串联探测装置中的中子探测器进行测量,所述串联探测装置由若干个所述中子探测器串联组成,其中,包括内部设有中子源的屏蔽容器,所述屏蔽容器上还设有能够通过所述串联探测装置的穿孔。

  进一步,所述屏蔽容器内部设有中子源放置孔,所述中子源设置在所述中子源放置孔中。

  进一步,所述穿孔贯穿所述屏蔽容器。

  进一步,所述中子源靠近所述穿孔。

  进一步,所述中子源放置孔通过密封塞封堵。

  进一步,所述屏蔽容器的材质为聚乙烯,能够慢化所述中子源发出的中子。

  进一步,所述密封塞的材质为聚乙烯。

  进一步,所述屏蔽容器为圆柱体,所述中子源放置孔位于屏蔽容器的轴线位置,所述穿孔从所述中子源放置孔的密封的底端附近穿过。

  进一步,所述屏蔽容器上还设有提手。

  本发明的有益效果在于:

  1.屏蔽容器4的尺寸约为Φ250mm×250mm,重量大约为12kg,便于携带。

  2.无需拆卸串联探测装置就实现了对串联探测装置中的每个中子探测器10进行快速的检验。

  3.检验操作简单、方便。

  附图说明

  图1是本发明背景技术部分所述的设置在设备室内的脉冲萃取柱1上的套管2的示意图,由若干个中子探测器10串联组成的串联探测装置设置在套管2内;

  图2是本发明具体实施方式中所述的一种中子探测器快速检验装置的立体示意图;

  图3是本发明具体实施方式中所述的一种中子探测器快速检验装置的平面示意图;

  图4是图3的A向视图;

  图5是图3的B向视图;

  图6是串联探测装置在本发明具体实施方式中所述的一种中子探测器快速检验装置中的检测过程的示意图;

  图中:1-脉冲萃取柱,2-套管,3-墙体,4-屏蔽容器,5-密封塞,6-穿孔,7-提手,8-中子源放置孔,9-中子源,10-中子探测器。

  具体实施方式

  下面结合附图和实施例对本发明作进一步描述。

  如图2至图5所示,本发明提供的一种中子探测器快速检验装置,用于对串联探测装置中的中子探测器10进行测量,串联探测装置由若干个中子探测器10串联组成,本发明提供的一种中子探测器快速检验装置是一个内部设有中子源9的屏蔽容器4,屏蔽容器4能够屏蔽中子源9发出的放射性粒子,屏蔽容器4上还设有能够通过串联探测装置的穿孔6。

  屏蔽容器4内部设有中子源放置孔8,中子源9设置在中子源放置孔8中。

  穿孔6贯穿屏蔽容器4。

  中子源9靠近穿孔6。

  中子源放置孔8通过密封塞5封堵。

  屏蔽容器4的材质为聚乙烯,能够慢化中子源9发出的中子。

  密封塞5为棒状,材质为聚乙烯。

  屏蔽容器4为圆柱体,中子源放置孔8位于屏蔽容器4的轴线位置,穿孔6从中子源放置孔8的密封的底端附近穿过。

  屏蔽容器4上还设有提手7,方便操作人员提着装置到指定位置进行操作。

  举例说明本发明所提供的一种中子探测器快速检验装置的实际应用;

  如图1所示,脉冲萃取柱1的高度约为12.3米,板段部分高度约为8米,设计板段部分每隔1米放置一个中子探测器10,则共需要9个中子探测器10,中子探测器10组成一个串联探测装置放入到套管2内,串联探测器可以通过人力进出套管2。

  对串联探测装置进行检验的过程如图6所示,屏蔽容器4的中子源放置孔8内设置中子源9,串联探测装置上的中子探测器10依次通过穿孔6进行检验,对一个中子探测器10检验完成后,移动串联探测装置,对下一个中子探测器10进行测试,直到所有的中子探测器10检验完成。

  所有的中子探测器10的连接线束均在串联探测装置的一侧引出。在检验时,需要将连接线束连接到对应的电子学器件中进行测试,如果中子探测器10发生故障可以及时更换,检验完成后,将中子源9取出,串联探测装置放入套管2中继续进行工作。

  本发明所述的装置并不限于具体实施方式中所述的实施例,本领域技术人员根据本发明的技术方案得出其他的实施方式,同样属于本发明的技术创新范围。

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