光栅器件掩膜版及制造方法
技术领域
本发明涉及半导体集成电路制造领域，特别涉及一种光栅器件掩膜版及制造方法。
背景技术
在目前半导体的制作过程中，在半导体衬底上制作半导体器件之前，需对半导体衬底进行布局设计，将半导体衬底划分为若干单元区(Die)和位于单元区之间的切割道(Scribe lane)，单元区用于后续形成半导体器件，切割道则是在半导体器件制作完成时，作为封装阶段单元区(Die)分割时的切割线。通常情况下，对半导体衬底进行划片工艺时，可以沿所述切割道的中心直接切割，将所述半导体衬底分为多个独立的器件单元，但光栅器件的内部结构为非对称的，因此在切割时，不易对准，容易造成切割刀片偏移，导致形成的器件单元偏移，甚至会损伤光栅器件的内部结构。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光栅器件掩膜版及制造方法，以解决光栅器件在执行划片工艺时不易对准而造成的切割偏离的问题。
为解决上述技术问题，本发明提供一种光栅器件掩膜版，所述光栅器件掩膜版包括：
一单元掩膜版，所述单元掩膜版包括多个单元图形和多个切割道图形，多个所述切割道图形分别形成于多个所述单元图形周围，以隔离多个所述单元图形；
对准标记掩膜版，所述对准标记掩膜版包括多个对准标记图形，所述对准标记图形对准所述切割道图形，并与所述单元图形相间隔。
可选的，在所述的光栅器件掩膜版中，多个所述单元图形在第一方向和第二方向上均呈对称分布。
可选的，在所述的光栅器件掩膜版中，所述切割道图形包括：多个第一切割道图形和多个第二切割道图形，所述多个第一切割道图形在第一方向上平行排布，所述多个第二切割道图形在第二方向上平行排布，所述第一切割道图形隔离所述第二方向上相邻的两个所述单元图形，所述第二切割道图形隔离所述第一方向上相邻的两个所述单元图形；其中，所述第一方向与所述第二方向垂直。
可选的，在所述的光栅器件掩膜版中，所述多个第一切割道图形与所述多个第二切割道图形交错排布，并且所述第一切割道图形和所述第二切割道图形部分重叠，所述对准标记图形对准所述第一切割道图形与所述第二切割道图形的重叠处。
可选的，在所述的光栅器件掩膜版中，所述对准标记呈十字型；所述对准标记图形在所述第一方向的最长边长以及在所述第二方向的最长边长均为70μm～90μm。
基于同一发明构思，本发明还提供一种光栅器件的制造方法，所述光栅器件的制造方法采用本发明所述的光栅器件掩膜版；所述光栅器件的制造方法包括：
提供半导体衬底；
使用单元掩膜版定义所述半导体衬底的多个单元区和多个切割道，多个所述切割道分别形成于多个所述单元区周围，以隔离多个所述单元区；
使用对准标记掩膜版在所述半导体衬底上形成对准标记，所述对准标记位于所述切割道内；
通过所述对准标记，沿所述切割道对所述半导体衬底执行划片工艺，以形成多个器件单元，其中，所述器件单元包括所述单元区的所述半导衬底。
可选的，在所述的光栅器件的制造方法中，所述切割道包括多个第一切割道和多个第二切割道，所述多个第一切割道在第一方向上平行排布，所述多个第二切割道在第二方向上平行排布，并且所述第一切割道与所述第二切割道部分重叠。
可选的，在所述的光栅器件的制造方法中，所述对准标记位于所述第一切割道图形与所述第二切割道图形的重叠处，所述对准标记在所述切割道水平方向上的截面呈十字型。
可选的，在所述的光栅器件的制造方法中，提供所述半导体衬底的方法包括：
提供一基底，所述基底的第一表面形成有光栅层，所述基底的第二表面形成有氧化层；
刻蚀所述光栅层，以形成光栅结构，所述光栅结构具有开口，所述开口自所述光栅层延伸至所述基底中；其中，一个所述器件单元包括至少一个所述光栅结构。
可选的，在所述的光栅器件的制造方法中，所述光栅层的材质为氧化硅。
在本发明提供的光栅器件掩膜版及制造方法中，所述光栅器件掩膜版包括一单元掩膜版和对准标记掩膜版，所述单元掩膜版包括多个单元图形和切割道图形，所述切割道图形分别形成于多个所述单元图形周围，所述对准标记掩膜版包括多个对准标记图形，所述对准标记图形对准所述切割道图形，并与所述单元图形相间隔。在光栅器件的制造方法中，采用所述光栅器件掩膜版定义所述半导体衬底的多个单元区和多个切割道，多个所述切割道分别形成于多个所述单元区周围，以隔离多个所述单元区；以及，通过对准标记掩膜版在所述切割道上形成对准标记；然后，通过所述对准标记，沿所述切割道对所述半导体衬底执行划片工艺，以形成多个器件单元，由此，在沿切割道对所述半导体衬底执行划片工艺时，可以通过所述对准标记对准，由此避免在执行所述划片工艺时发生切割偏离，从而避免对器件单元的损伤。
附图说明
图1至图2是本发明具体实施例提供光栅器件掩膜版的结构示意图；
图3是本发明实施例提供的光栅器件的制造方法中形成的结构俯视图；
图4至图5是本发明提供的光栅器件的制造方法中形成的结构剖视图；
其中，附图标记说明如下：
100-光栅器件掩膜版；110-单元图形；120-切割道图形；121-第一切割道图形；122-第二切割道图形；130-对准标记图形；140-切割线；200-半导体衬底；210-基底；220-光栅层；230-氧化层；240-开口。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明提出的光栅器件掩膜版及制造方法作进一步详细说明。根据下面说明，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
请参考图1和图2，其为本发明实施例提供的光栅器件掩膜版。如图1所示，所述光栅器件掩膜版100包括：一单元掩膜版和对准标记掩膜版。
所述单元掩膜版用于定义半导体衬底的单元区和切割道，具体的，所述单元掩膜版包括：多个单元图形110和多个切割道图形120，所述切割道图形120分别形成于多个所述单元图形110周围，以隔离多个所述单元图形100。
在本实施例中，所述单元图形110用于定义单元区，具体的，所述单元图形110可以在光栅器件制造时，定义光栅器件的单元区(Die)的尺寸，所述单元区可以用于后续形成半导体器件。更具体的，多个所述单元图形110在所述第一方向和所述第二方向上均呈对称分布，在所述第一方向上相邻的两个所述单元图形110位于同一条直线上，在所述第二方向上相邻的两个所述单元图形110位于同一条直线上。
所述多个切割道图形120用于定义切割道。具体的，所述切割道图形120包括多个第一切割道图形121和多个第二切割道图形122，所述多个第一切割道图形121在第一方向上平行排布，所述多个第二切割道图形122在第二方向上平行排布，所述第一切割道图形121隔离所述第二方向上相邻的两个所述单元图形，所述第二切割道图形122隔离所述第一方向上相邻的两个所述单元图形；其中，所述第一方向与所述第二方向垂直。
所述多个第一切割道图形121与所述多个第二切割道图形122交错排布，并且所述第一切割道图形121和所述第二切割道图形122部分重叠。
所述对准标记图形130用于形成光栅器件的对准标记，可以通过所述对准标记对光栅器件进行对准，特别的，在执行划片工艺时，可以通过所述对准标记对准切割道。如图2所示，可以通过所述对准标记图形130使切割线140(即对光栅器件执行划片工艺时形成的切割线)位于切割道图形120内，从而实现切割对准，避免在执行划片工艺时发生切割偏移。
进一步的，所述对准标记掩膜版包括多个所述对准标记图形130，所述对准标记图形130对准所述切割道图形120，并与所述单元图形相间隔。具体的，所述对准标记图形130对准所述第一切割道图形121与所述第二切割道图形122的重叠处。
较佳的，所述对准标记图形在第一方向的最长边a的边长为70μm～90μm，所述对准标记图形在所述第二方向的最长边b的边长为70μm～90μm。如此，在后续制造所述光栅器件时，使对准标记具有足够的尺寸，避免在执行划片工艺或者切割时对准标记尺寸太小不易对准的问题。
基于同一发明构思，本发明还提供一种光栅器件的制造方法，所述光栅器件的制造方法使用本发明提供的光栅器件掩膜版，所述光栅器件的制造方法包括：
步骤S1：提供半导体衬底；
步骤S2：使用单元掩膜版定义所述半导体衬底上的多个单元区和多个切割道，多个所述切割道分别形成于多个所述单元区周围，以隔离多个所述单元区；
步骤S3：使用对准标记掩膜版在所述半导体衬底上形成对准标记，所述对准标记位于所述切割道内；
步骤S4：通过所述对准标记，沿所述切割道对所述半导体衬底执行划片工艺，以形成多个器件单元，其中，所述器件单元包括所述单元区的所述半导衬底。
接着，请参考图3，其为本发明实施例提供的光栅器件的制造方法中形成的俯视图，具体的，图3为沿图2中AB方向的剖视图。首先，执行步骤S1，如图3所示，提供半导体衬底200。具体的，如图4所示，提供所述半导体衬底200的方法包括：提供一基底210，所述基底210的第一表面形成有光栅层220，所述基底的第二表面形成有氧化层230，所述光栅层220可以为氧化硅层。所述氧化层230用于保护所述基底，在后续刻蚀所述光栅层220时，可以避免所述基底210断裂。其中，所述第一表面与所述第二表面相对。
接着，如图5所示，刻蚀所述光栅层220，以形成光栅结构，所述光栅结构中具有多个开口240，所述开口240自所述光栅层220延伸至所述基底210中；其中，一个所述器件单元至少包括一个所述光栅结构，其具体可以采用干法刻蚀工艺和/或湿法刻蚀工艺形成所述开口240。
接着，执行步骤S2，使用单元掩膜版定义所述半导体衬底的多个单元区和多个切割道，多个所述切割道分别形成于多个所述单元区周围，以隔离多个所述单元区，所述单元区用于形成器件单元。
所述切割道包括多个第一切割道和多个第二切割道，所述多个第一切割道在第一方向上平行排布，所述多个第二切割道在第二方向上平行排布，并且所述第一切割道与所述第二切割道部分重叠。
接着，执行步骤S3，使用对准标记掩膜版形成对准标记，所述对准标记位于所述切割道内。具体的，所述对准标记位于所述第一切割道与所述第二切割道的重叠处，所述对准标记在所述切割道水平方向上的截面呈十字型，所述对准标记具体可以为一金属层。接着，执行步骤S4，通过所述对准标记，沿所述切割道对所述半导体衬底执行划片工艺，以形成多个器件单元，其中，所述器件单元包括所述单元区的所述半导衬底。所述划片工艺为现有技术，在此不在赘述。由于所述对准标记的存在，在对所述半导体衬底200执行划片工艺时，可以实现切割对准，避免发生切割偏移，从而可以避免对光栅器件造成损伤，即避免对后续形成的器件单元造成损伤。
此外，在本发明的其它实施例中，在通过所述对准标记，沿所述切割道对所述半导体衬底执行划片工艺之前，还包括：通过激光束沿所述切割道对所述半导体衬底进行切割，以形成划片槽，以及，在通过所述对准标记，沿所述切割道对所述半导体衬底执行划片工艺时，使用划片刀沿所述划片槽对所述半导体衬底执行划片工艺，此外，所述对准标记可以作为套刻测量图形测量切割时的偏移量。
综上可见，在本发明提供的光栅器件掩膜版及制造方法中，通过设计光栅器件掩膜版，并在后续的光栅器件的制造方法中，通过所述光栅器件掩膜版形成对准标记，通过所述对准标记对半导体衬底执行划片工艺，由此，通过所述对准标记实现对准，从而避免在执行所述划片工艺时时发生切割偏离，并进一步的避免对器件单元的损伤。
上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述，并非对本发明范围的任何限定，本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。
