伽玛调试方法、伽玛调试设备和存储介质
技术领域
本发明一般涉及显示模组检测领域，尤其涉及伽玛调试方法、伽玛调试设备和存储介质。
背景技术
AMOLED(Active-Matrix Organic Light Emitting Diode；有源矩阵有机发光二极管)在显示图片时，需要满足灰阶与亮度的伽玛(Gamma)2.2曲线关系。
为了保证在各显示亮度下的显示效果，一般需要进行多段调试，也即对多个显示亮度均进行伽玛调试(Gamma Tuning),对应于每一个显示亮度对应一条伽玛曲线，也可称为伽玛组(Gamma Band)，目前，各伽玛组的第一基准电压和第二基准电压是给定的固定值，其不随显示亮度的变化而变化，导致至少在低亮度时伽玛调试精度不高。
发明内容
鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种伽玛调试方法、伽玛调试设备和存储介质，至少用于提高低亮度时伽玛调试的精度。
第一方面，本发明提供一种伽玛调试方法，包括以下步骤：
在多段调试模式下，若无当前显示亮度对应的伽玛组，则根据所述当前显示亮度上下相邻显示亮度对应的各伽玛组的第一基准电压和第二基准电压，确定所述当前显示亮度的第一基准电压和第二基准电压；
在所述当前显示亮度的第一基准电压和第二基准电压范围内，调试至少部分灰阶绑点的电压，使得对应灰阶绑点的灰阶亮度值达到目标灰阶亮度值。
作为可实现方式，调试部分灰阶绑点的电压，并根据当前显示亮度上下相邻显示亮度对应的各伽玛组灰阶绑点的绑点电压，确定所述当前显示亮度未进行调试的灰阶绑点的绑点电压。
作为可实现方式，所述根据所述当前显示亮度上下相邻显示亮度对应的各伽玛组的第一基准电压和第二基准电压，确定所述当前显示亮度的第一基准电压和第二基准电压，具体为：
根据以下关系式确定当前显示亮度的第一基准电压和第二基准电压，
其中，VGSP为当前显示亮度的第一基准电压，VGMP为当前显示亮度的第二基准电压，DBV为当前显示亮度，DBVn-1为当前显示亮度之下相邻的显示亮度，DBVn为当前显示亮度之上相邻的显示亮度，VGSPn-1为DBVn-1的第一基准电压，VGMPn-1为DBVn-1的第二基准电压，VGSPn为DBVn的第一基准电压，VGMPn为DBVn的第二基准电压，n为自然数且n大于等于2。
作为可实现方式，根据以下关系式确定所述当前显示亮度未进行调试的灰阶绑点的绑点电压，
其中，
作为可实现方式，根据当前显示亮度的第一基准电压、第二基准电压及各绑点的电压，确定当前显示亮度的伽玛组的各绑点的寄存器值。
作为可实现方式，根据以下关系式确定当前显示亮度的伽玛组的各绑点的寄存器值：
其中，round()为取整函数，regsi为第i绑点的寄存器值，bn为伽玛电路中分压电阻串的字节数，i为自然数，vi为第i绑点的电压值。
作为可实现方式，各所述伽玛组中的进行调试的绑点数量和/或位置可调。
作为可实现方式，低显示亮度对应的伽玛组中进行调试的绑点数量大于高显示亮度对应的伽玛组中进行调试的绑点数量。
第二方面，提供一种伽玛调试设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有程序，所述程序在被所述处理器读取执行时，实现上述伽玛调试方法。
第三方面，提供一种存储介质，其上存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现上述伽玛调试方法。
根据本申请实施例提供的技术方案，根据当前显示亮度上下相邻显示亮度对应的各伽玛组的第一基准电压和第二基准电压，确定当前显示亮度的第一基准电压和第二基准电压，也即根据显示亮度的不同，第一基准电压和第二基准电压会跟随亮度进行变化，可以提高低亮度时伽玛调试的精度。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为本发明实施例中伽玛调试流程图；
图2为本发明实施例中伽玛调试设备示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与发明相关的部分。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
如图1所示，本实施例提供一种伽玛调试方法，包括以下步骤：
S1：在多段调试模式下，若无当前显示亮度对应的伽玛组，则根据所述当前显示亮度上下相邻显示亮度对应的各伽玛组的第一基准电压和第二基准电压，确定所述当前显示亮度的第一基准电压和第二基准电压；
这里所说的多段调试模式是指在不同的显示亮度下进行伽玛调试。本领域技术人员可以理解，对于显示面板(Panel)来说，可以根据使用环境的亮度来调试显示面板的显示亮度，例如，显示亮度可以由0-100任意调试。若伽玛电路的分压电阻串的字节数为10bit，那么对于任意显示亮度下，电压会被有210(1024)份，采用这1024份电压对若干灰阶绑点进行调试。为了满足工业化生产的需要，保证一定的生产效率，一般只对若干显示亮度进行调试，如在10、20、30、40、50、60、70、80等的显示亮度下进行伽玛调试。每个显示亮度对应一个伽马组。
当前显示亮度上下相邻显示亮度是指，现有伽马组对应的亮度中，最接近当前显示亮度的两个显示亮度，且其中一个小于当前显示亮度，另一个大于当前显示亮度。
如果，无当前显示亮度对应的伽玛组，例如当前显示的亮度为56，上述伽玛组中没有对应于显示亮度为56的伽玛组，那么就根据显示亮度为50和显示亮度为60所对应的伽玛组的第一基准电压和第二基准电压，确定所述当前显示亮度的第一基准电压和第二基准电压。一般地，第一基准电压为伽玛电路的峰值电压VGMP，第二基准电压为伽玛电路的谷值电压VGSP。
S2：在所述当前显示亮度的第一基准电压和第二基准电压范围内，调试(Tuning)至少部分灰阶绑点的电压，使得对应灰阶绑点的灰阶亮度值达到目标灰阶亮度值。
对于进行伽玛调试的灰阶绑点，在当前显示亮度的第一基准电压和第二基准电压范围内，调节控制电压，使得对应灰阶绑点的灰阶亮度值达到目标灰阶亮度值，其中，目标灰阶亮度值为目标伽玛曲线中该灰阶绑点对应的灰阶亮度值。
可以将当前显示亮度的第一基准电压、第二基准电压范围及各灰阶绑点调试所得的控制电压存储在伽玛寄存器中。
根据本申请实施例提供的技术方案，根据当前显示亮度上下相邻显示亮度对应的各伽玛组的第一基准电压和第二基准电压，确定当前显示亮度的第一基准电压和第二基准电压，也即根据显示亮度的不同，第一基准电压和第二基准电压会跟随亮度进行变化，可以提高低亮度时伽玛调试的精度，提升光学表现。此外，可以仅对部分灰阶绑点进行调试，节省调试时间，提供生产效率。
第一基准电压、第二基准电压会跟随亮度发生变化，相较于现有技术中，采用固定的第一基准电压、第二基准电压，且为了满足各亮度伽玛调试的需要，第一基准电压、第二基准电压必须取满足各亮度伽玛调试所需的最大电压，而本申请中，第一基准电压、第二基准电压会跟随亮度而变化，在不同的亮度下采用不同大小的第一基准电压、第二基准电压，也即不必在每个亮度下都采用最大的电压，对着所采用电压的降低，可以节约源极(Source)的部分功耗。
作为可实现方式，为了提高调试效率，降低调试所耗时间(Tack Time),可以仅对部分灰阶绑点的电压进行调试，而对于其余部分的灰阶绑点可以通过非线性差值的方式来获得未进行调试的绑点电压，也即，调试部分灰阶绑点的电压，并根据当前显示亮度上下相邻显示亮度对应的各伽玛组灰阶绑点的绑点电压，确定所述当前显示亮度未进行调试的灰阶绑点的绑点电压。
作为可实现方式，所述根据所述当前显示亮度上下相邻显示亮度对应的各伽玛组的第一基准电压和第二基准电压，确定所述当前显示亮度的第一基准电压和第二基准电压，具体为：
根据以下关系式确定当前显示亮度的第一基准电压和第二基准电压，
其中，VGSP为当前显示亮度的第一基准电压，VGMP为当前显示亮度的第二基准电压，DBV为当前显示亮度，DBVn-1为当前显示亮度之下相邻的显示亮度，DBVn为当前显示亮度之上相邻的显示亮度，VGSPn-1为DBVn-1的第一基准电压，VGMPn-1为DBVn-1的第二基准电压，VGSPn为DBVn的第一基准电压，VGMPn为DBVn的第二基准电压，n为自然数且n大于等于2。
作为可实现方式，根据以下关系式确定所述当前显示亮度未进行调试的灰阶绑点的绑点电压，也即根据以下关系式进行非线性差值，获得当前显示亮度未进行调试的灰阶绑点的绑点电压。
其中，
作为可实现方式，根据当前显示亮度的第一基准电压、第二基准电压及各绑点的电压，确定当前显示亮度的伽玛组的各绑点的寄存器值。
作为可实现方式，本方案适用于数字伽玛(Digital Gamma)调试，根据以下关系式确定当前显示亮度的伽玛组的各绑点的寄存器值：
其中，round()为取整函数，regsi为第i绑点的寄存器值，bn为伽玛电路中分压电阻串的字节数，i为自然数，vi为第i绑点的电压值。
作为可实现方式，各所述伽玛组中的进行调试的绑点数量和/或位置可调。需要说明的是，不同伽玛组中，需要调试的绑点数量可以不同，并且其绑点的位置也可以不同。如下表中，显示亮度DBV0与显示亮度DBV1中需要调试的绑点数量不同，并且调试的绑点位置也不尽相同，如显示亮度DBV0中对灰阶绑点Tap3进行调试，而在显示亮度DBV1中对灰阶绑点Tap3进行差值计算获得该灰阶绑点的电压。
作为可实现方式，为了提升显示模组的光学表现，并且降低调试的时间，低显示亮度对应的伽玛组中进行调试的绑点数量大于高显示亮度对应的伽玛组中进行调试的绑点数量。一般地，在低亮度的伽玛组中，中低灰阶可以增加调试的绑点数量，例如但不限于，在0-60灰阶对较多的绑点进行调试，在61-255灰阶采用较少的绑点进行调试。
如上表所示，DBV0至DBVn显示亮度逐渐增大，在显示亮度为DBV0时，灰阶绑点Tap1至Tapm中，具有较多的灰阶绑点进行调试(表中对号的表格表示对应灰阶绑点采用调试，没有对号的表格表示通过差值计算确定对应灰阶绑点的电压)，也可认为是灰阶绑点进行调试的密度高。随着现实亮度的增大，采用调试的灰阶绑点减少，也可认为是灰阶绑点进行调试的密度低，相应地，采用差值计算的灰阶绑点增多，这样可以降低调试的时间。
基于同一发明构思，如图2所示，本发明实施例提供一种伽玛调试设备10，包括存储器12和处理器11，所述存储器12存储有程序，所述程序在被所述处理器11读取执行时，实现上述伽玛调试方法。
基于同一发明构思，本发明实施例提供一种介质，其上存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现上述伽玛调试方法。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。
