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液晶显示屏的检测方法、装置及终端设备

2020-12-29 09:43:34

液晶显示屏的检测方法、装置及终端设备

  技术领域

  本发明涉及显示屏检测的技术领域,尤其涉及一种液晶显示屏的检测方法、装置及终端设备。

  背景技术

  在现在信息高度发达的社会中,液晶显示屏大量存在于我们生活中。对液晶显示屏进行缺陷检测通常为检测液晶显示屏内的液晶晶格是否有缺失或暗点。

  现有技术中通常采用人工肉眼观察的方式对液晶显示屏进行检测。然而液晶的晶格有大小区分,大的液晶晶格人眼是能直接看到,但是小的液晶晶格人眼是很难观察到,尤其是在一块小液晶屏上存在几千上万个液晶晶格,若存在几个液晶晶格缺失,则较难通过人眼检测出来。由此可见,通过人工检测的方式对液晶显示屏检测,存在检测精度低以及人力成本大等弊端。

  发明内容

  有鉴于此,本发明实施例提供了一种液晶显示屏的检测方法、装置及设备,以解决液晶显示屏的缺陷检测精度低的问题。

  本发明实施例的第一方面提供了一种液晶显示屏的检测方法,包括:

  获取待检测显示屏的液晶面板图像;所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格;

  获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息,根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距;

  根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列;

  计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距;

  若任一所述行间距大于预设标准间距,则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。

  在一个实施示例中,所述获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息,根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距,包括:

  从所述液晶面板图像中横向截取预设宽度的子图像;所述子图像的长度等于所述液晶面板图像的长度;

  确定所述子图像包含的所述液晶晶格,计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距;

  根据所有所述第一间距计算得到平均间距,确定所述平均间距为所述列间距。

  在一个实施示例中,所述确定所述子图像包含的所述液晶晶格,计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距,包括:

  通过局部阈值法对所述子图像进行二值化处理,得到二值化图像;

  确定所述二值化图像中等于预设位值的像素点为所述子图像中包含的所述液晶晶格对应的像素点;

  根据所述子图像中包含的各个所述液晶晶格对应的像素点在所述子图像的位置信息,得到所述子图像中包含的各个所述液晶晶格对应的第一坐标位置;

  根据所述第一坐标位置计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距。

  在一个实施示例中,所述根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列,包括:

  根据所述列间距将所述液晶面板图像从竖向均分为若干液晶晶格列图像;每一所述液晶晶格列图像对应一列所述液晶晶格列。

  在一个实施示例中,所述计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距,包括:

  通过局部阈值法对各个所述液晶晶格列图像进行二值化处理;

  确定各个二值化后的所述液晶晶格列图像中等于所述预设位值的像素点为各个所述液晶晶格列图像中包含的所述液晶晶格对应的像素点;

  根据各个所述液晶晶格列图像中包含的各个所述液晶晶格对应的像素点在所述液晶面板图像的位置信息,得到各个所述液晶晶格列图像中包含的各个所述液晶晶格对应的第二坐标位置;

  根据所述第二坐标位置计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距。

  在一个实施示例中,所述若任一所述行间距大于预设标准间距,则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果,包括:

  若任一所述行间距大于预设标准间距,则根据所述行间距对应的两个所述液晶晶格的所述第二坐标位置计算缺失晶格的坐标数据;

  根据所有所述坐标数据,在所述液晶面板图像中标识出异常像素点;所述异常像素点为所述缺失的晶格所在像素点或所述暗点所在的像素点;

  输出包含标识有异常像素点的所述液晶面板图像的所述检测结果。

  在一个实施示例中,在获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息,根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距之前,还包括:

  对所述液晶面板图像进行均值滤波处理,得到预处理图像;

  从所述预处理图像中任意位置处截取预设尺寸的样本图像,对所述样本图像进行膨胀处理;

  获取膨胀处理后的所述样本图像在竖直方向上的实际角度,根据液晶晶格的预设角度和所述实际角度计算角度偏差;

  根据所述角度偏差对所述液晶面板图像进行校正。

  本发明实施例的第二方面提供了一种液晶显示屏的检测装置,包括:

  液晶面板图像获取模块,用于获取待检测显示屏的液晶面板图像;所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格;

  列间距计算模块,用于获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息,根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距;

  均分模块,用于根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列;

  行间距计算模块,用于计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距;

  检测结果输出模块,用于若任一所述行间距大于预设标准间距,则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。

  本发明实施例的第三方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面所述方法的步骤。

  本发明实施例的第四方面提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面的所述液晶显示屏的检测方法的步骤。

  本发明实施例提供的一种液晶显示屏的检测方法、装置及终端设备,获取待检测显示屏的液晶面板图像;所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格;获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息,根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距;从而根据液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息计算得到液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距;根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列;计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距;若任一所述行间距大于预设标准间距,则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。将液晶面板图像中每列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距与液晶晶格的预设标准间距进行对比;若任一行间距大于预设标准间距,则说明该行间距对应的两个液晶晶格之间的有液晶晶格缺失,从而输出晶格缺失或具有暗点的检测结果,实现对待检测显示屏的缺陷进行检测,提高检测精度。

  附图说明

  为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

  图1是本发明实施例一提供的液晶显示屏的检测方法的流程示意图;

  图2是本发明实施例一提供的待检测显示屏的液晶面板图像采集系统;

  图3是本发明实施例一提供的从液晶面板图像中横向截取到的子图像的示意图;

  图4是本发明实施例二提供的液晶显示屏的检测装置的结构示意图;

  图5是本发明实施例三提供的终端设备的结构示意图。

  具体实施方式

  为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。

  本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。例如包含一系列步骤或单元的过程、方法或系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元,而是可选地还包括没有列出的步骤或单元,或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。此外,术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象,而非用于描述特定顺序。

  实施例一

  如图1所示,是本发明实施例一提供的液晶显示屏的检测方法的流程示意图。本实施例可适用于对液晶显示屏的液晶面板进行缺陷检测的应用场景,该方法可以由液晶显示屏的检测装置执行,该装置可为控制设备或终端平板、PC或服务器等;在本申请实施例中以液晶显示屏的检测装置作为执行主体进行说明,该方法具体包括如下步骤:

  现有技术中通常采用人眼观测的方式对液晶显示屏的液晶面板进行缺陷检测,但人体肉眼无法观察到小尺寸的液晶晶晶格状态且液晶面板中包含的液晶晶格数量庞大难以确保检测无遗漏,导致液晶显示屏的检测精确度低。为解决这一问题,本申请实施例通过获取待检测显示屏的液晶面板图像,根据液晶面板图像中包含的液晶晶格的位置信息,得到在液晶面板图像中矩阵排列的各个液晶晶格之间的列间距,计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距;将液晶面板图像中每列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距与液晶晶格的预设标准间距进行对比;若任一行间距大于预设标准间距,则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果,实现对待检测显示屏的缺陷进行检测,提高检测精度。

  S110、获取待检测显示屏的液晶面板图像;所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格。

  为实现对待检测显示屏的液晶面板进行缺陷检测,可以通过拍摄装置采集待检测显示屏的液晶面板图像,通过对液晶面板图像进行分析得到待检测显示屏的检测结果。具体的,如图2所示,为待检测显示屏的液晶面板图像采集系统,该采集系统包括拍摄装置10、待检测显示屏20和液晶显示屏的检测装置30。液晶显示屏的检测装置30与拍摄装置10通信连接,液晶显示屏的检测装置30控制拍摄装置10采集放置于检测平台上的待检测显示屏20的液晶面板图像,从而获得待检测显示屏的液晶面板图像。可选的,该拍摄装置可为高分辨率的拍摄装置,其分辨率不低于的液晶晶格分辨率和的点分辨率,确保采集到的液晶面板图像包含液晶面板内的液晶晶格信息。由于液晶面板内的液晶晶格以矩阵排布形式存在,则获取到的液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格。

  在一个实际应用场景中,例如待检测显示屏的出厂检测场景中,待检测显示屏被放置于流水线上进行运输,逐一经过拍摄装置对应的图像采集区域,通过设于流水线正上方的拍摄装置对待检测显示屏的液晶面板图像进行采集。液晶显示屏的检测装置与拍摄装置通信连接,且拍摄装置对应的图像采集区域设有物体感应装置(例如红外感应传感器),该物体感应装置与液晶显示屏的检测装置连接,当物体感应装置感应到被流水线运输至拍摄装置的图像采集区域的待检测显示屏时,向液晶显示屏的检测装置发出信号;液晶显示屏的检测装置接收到感应信号后,液晶显示屏的检测装置控制拍摄装置对位于图像采集区域的待检测显示屏的液晶面板进行拍摄得到液晶面板图像并将该液晶面板图像发送至液晶显示屏的检测装置,从而获得待检测显示屏的液晶面板图像。

  S120、获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息,根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距。

  在获得待检测显示屏的液晶面板图像后,由于液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格,根据液晶面板图像中横向排列的每行液晶晶格中各个液晶晶格之间的间距,能够得到液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距。具体的,获取液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息,例如各个液晶晶格在液晶面板图像中的坐标位置,从而得到液晶面板图像中横向排列的每行液晶晶格中各个液晶晶格的位置信息;根据每行液晶晶格中各个液晶晶格的位置信息能够计算得到每行液晶晶格中每两相邻的两个液晶晶格之间的间距;对所有得到的间距取平均值得到平均间距,该平均间距为液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距。

  在一个实施示例中,由于采集到的待检测液晶显示屏的液晶面板图像可能存在噪声或角度偏差等问题,在获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息之前,需对获取得到的液晶面板图像进行滤波处理和角度偏差校正。具体的,对所述液晶面板图像进行均值滤波处理,得到预处理图像;从所述预处理图像中任意位置处截取预设尺寸的样本图像,对所述样本图像进行膨胀处理;获取膨胀处理后的所述样本图像在竖直方向上的实际角度,根据液晶晶格的预设角度和所述实际角度计算角度偏差;根据所述角度偏差对所述液晶面板图像进行校正。

  在获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息之前,为实现对获取到的液晶面板图像进行噪声过滤,使液晶面板图像的灰度均匀,可以对液晶面板图像进行均值滤波处理,得到预处理图像。详细地,对液晶面板图像进行均值滤波处理的具体过程可为:采用预设的二维滑动模板在液晶面板图像上滑动扫描,把液晶面板图像上位于该二维滑动模板内的像素点按照像素值的大小进行排序生成单调上升(或下降)的伪二维数据序列,然后将伪二维数据序列输入滤波公式,选取伪二维数据序列的平均值作为液晶面板图像中位于该二维滑动模板的中心位置的像素点的像素值;当该二维滑动模板扫描完整幅液晶面板图像时,得到均值滤波处理后的预处理图像。可选的,该滤波公式可为g(x,y)=mean{f(x-k,y-l),(k,l∈W)};其中,f(x,y)为原始的液晶面板图像;g(x,y)为预处理图像;W为二维滑动模板。该二维滑动模板的核大小可为3*3或5*5;该二维滑动模板包括线状、圆形、十字形或圆环形等形状。详细地,该二维滑动模板可为:

  在对液晶面板图像的噪声进行过滤得到预处理图像后,还需对预处理图像进行角度偏差校正。具体的,从预处理图像中任意位置处截取预设尺寸的样本图像,对所述样本图像进行膨胀处理,以使样本图像的边缘扩大,样本图像中包含的每列液晶晶格列连接成一条竖直方向的直线;对膨胀处理后的样本图像在竖直方向上的角度进行检测得到实际角度θ1,根据液晶晶格的预设角度θ0和所述实际角度θ1计算角度偏差Δθ,其中Δθ=θ1-θ0;使预处理图像在原有的角度的基础上旋转-(Δθ)角度,得到过滤噪声以及角度偏差校正后的液晶面板图像。

  在一个实施示例中,为准确得到液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距,可通过截取液晶面板图像中横向水平排列的任一排液晶晶格,根据截取到的液晶晶格排中各个液晶晶格的位置信息计算液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距,以减少检测计算量。获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息,根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距的具体过程包括步骤11至步骤13:

  步骤11、从所述液晶面板图像中横向截取预设宽度的子图像;所述子图像的长度等于所述液晶面板图像的长度;

  由于液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格,为得到液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距,可通过从液晶面板图像中横向截取水平横向排列的任意行液晶晶格,进行列间距计算,无需对液晶面板图像中所有液晶晶格行进行计算,减少检测过程中的运算量。具体的,如图3所示,从过滤噪声以及角度偏差校正后的液晶面板图像中水平横向截取预设宽度H的子图像;该子图像的长度L等于所述液晶面板图像的长度L,以确保截图到的子图像包含液晶面板图像中完整的液晶晶格行信息。子图像的预设宽度H可根据液晶面板中液晶晶格行的宽度进行设置,以使截取到的子图像至少包含液晶面板图像中水平横向排列的任意一行液晶晶格。可选的,子图像的预设宽度可设为20。

  步骤12、确定所述子图像包含的所述液晶晶格,计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距;

  确定子图像中包含的液晶晶格,从而得到子图像中横向排列的每行液晶晶格中各个液晶晶格的位置信息;根据每行液晶晶格中各个液晶晶格的位置信息能够计算得到子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距。

  在一种实施方式中,由于液晶面板图像中包含的各个液晶晶格为白色液晶晶格,在液晶面板图像中各个液晶晶格以白点的形式展现。可通过将子图像输入预先训练好的液晶晶格识别模型中,对子图像中的液晶晶格进行识别,从而标识出子图像中包含的液晶晶格。

  在另一种实施方式中,为更准确的确定子图像中包含的液晶晶格,可通过局部阈值法将子图像中的背景与液晶晶格分离,得到子图像中包含的液晶晶格,从而得到子图像中横向排列的每行液晶晶格中各个液晶晶格的位置信息。确定所述子图像包含的所述液晶晶格,计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距的具体过程包括步骤21至步骤24:

  步骤21:通过局部阈值法对所述子图像进行二值化处理,得到二值化图像;

  局部阈值法是灰度阈值选取为随像素位置变化而变化的函数,利用局部阈值的方法是将可以将截取的子图像的液晶晶格和背景元素分开,通过局部阈值法对子图像进行二值化处理,得到二值化图像,使液晶晶格能以最好的状态展现出来。详细举例说明,设子图像在像素点(i,j)处的灰度值为f(i,j),考虑以像素点(i,j)为中心的(2ω+1)×(2ω+1)窗口,(2ω+1表示窗口的边长),则通过阈值算法对子图像进行二值化处理的具体过程如下:计算子图像中各个像素点(i,j)的阈值T(i,j),其中,对子图像中个像素点(i,j)用b(i,j)值逐点进行阈值化处理得到二值化图像,其中b(i,j)为:

  预设子图像I的大小为N*M。由于I中的元素不是每个都是3x3窗口的中心,所以需要对子图像I进行扩展。首先创建一个(N+2)*(M+2)的矩阵extend,把矩阵I中的像素extend(i+1,j+1)=I(i,j),而第一行和最后一行,第一列和最后一列的填充一句是以它靠近的行或列为对称轴进行填充。遍历从extend(2,2)到extend(N+1,M+1)的像素,并取以当前像素为中心的3x3窗口的最大像素max和最小像素min,依据公式t=0.5×(max+min)求出阈值t。把灰度图像矩阵I赋值给另一矩阵B,以免改变当前得到的灰度矩阵。遍历该矩阵B,将子图像中每一像素点的灰度值与对应的阈值t比较;若任一像素点的灰度值大于阈值,则给该像素点赋值为1;若任一像素点的灰度值小于阈值,则给该像素点赋值0。

  步骤22、确定所述二值化图像中等于预设位值的像素点为所述子图像中包含的所述液晶晶格对应的像素点;

  由于液晶面板图像中包含的各个液晶晶格为白色液晶晶格,将子图像中每一像素点的灰度值与对应的阈值t比较;若任一像素点的灰度值大于阈值,则给该像素点赋值为1,判定为该像素点为液晶晶格;若任一像素点的灰度值小于阈值,则给该像素点赋值0,判定为该像素点为背景元素。设定预设位值为1,则能够确定二值化图像中等于预设位值的像素点为子图像中包含的液晶晶格对应的像素点。

  步骤23、根据所述子图像中包含的各个所述液晶晶格对应的像素点在所述子图像的位置信息,得到所述子图像中包含的各个所述液晶晶格对应的第一坐标位置;

  确定子图像中包含的液晶晶格对应的像素点后,根据子图像中包含的各个液晶晶格对应的像素点在子图像的位置信息,得到子图像中包含的液晶晶格在子图像的第一坐标位置(x0,y0)、(x1,y1).....(xn,yn)(n为该子图像中的白色晶格点数数目)。

  步骤24、根据所述第一坐标位置计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距。

  根据子图像内每行液晶晶格中各个液晶晶格的第一坐标位置能够计算得到每行液晶晶格中每两相邻的两个液晶晶格之间的第一间距。具体的,根据公式得到每行液晶晶格中每两相邻的两个液晶晶格之间的第一间距Δd0、Δd1......Δdn-1。

  步骤13、根据所有所述第一间距计算得到平均间距,确定所述平均间距为所述列间距。

  得到子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距之后,由于各个第一间距可能包含一定的位置误差,需对第一间距进行误差校正才能根据第一间距确定液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距。具体的,可通过计算所有第一间距的平均值得到平均间距进行误差校正。详细地,计算所有第一间距的平均值时,需去除所有第一间距中的最大值和最小值,然后对剩余的第一间距进行平均值计算得到平均间距,该平均间距可以近似认为是每列液晶晶格之间的间距,因此确定平均间距为液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距。

  S130、根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列。

  获得液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距之后,可以根据列间距将液晶面板图像中矩阵排列的若干液晶晶格从纵向上均分为若干液晶晶格列。

  在一个实施示例中,根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列的具体过程包括:根据所述列间距将所述液晶面板图像从竖向均分为若干液晶晶格列图像;每一所述液晶晶格列图像对应一列所述液晶晶格列。

  S140、计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距。

  将液晶面板图像中包含的若干液晶晶格均分为若干液晶晶格列后,由于液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格,根据液晶面板图像中纵向排列的每列液晶晶格列中各个液晶晶格之间的间距,能够得到液晶面板图像中横向排列的各行液晶晶格之间的行间距。具体的,获取液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列包含的各个液晶晶格的位置信息;根据每列液晶晶格列中各个液晶晶格的位置信息能够计算得到每列液晶晶格中每两相邻的两个液晶晶格之间的行间距。

  在一个实施示例中,计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距的具体过程包括步骤31至步骤34:

  步骤31、通过局部阈值法对各个所述液晶晶格列图像进行二值化处理;

  根据列间距将液晶面板图像从竖向均分为若干液晶晶格列图像后,通过局部阈值法对各个液晶晶格列图像进行二值化处理,得到二值化图像,使液晶晶格列能以最好的状态展现出来。详细举例说明,设任一液晶晶格列图像在像素点(i,j)处的灰度值为f(i,j),考虑以像素点(i,j)为中心的(2ω+1)×(2ω+1)窗口,(2ω+1表示窗口的边长),则通过阈值算法对该液晶晶格列图像进行二值化处理的具体过程如下:计算该液晶晶格列图像中各个像素点(i,j)的阈值T(i,j),其中,对该液晶晶格列图像中个像素点(i,j)用b(i,j)值逐点进行阈值化处理得到二值化后的各个液晶晶格列图像,其中b(i,j)为:

  步骤32、确定各个二值化后的所述液晶晶格列图像中等于所述预设位值的像素点为各个所述液晶晶格列图像中包含的所述液晶晶格对应的像素点;

  由于液晶面板图像中包含的各个液晶晶格为白色液晶晶格,将各个液晶晶格列图像中每一像素点的灰度值与对应的阈值t比较;若任一像素点的灰度值大于阈值,则给该像素点赋值为1,判定为该像素点为液晶晶格;若任一像素点的灰度值小于阈值,则给该像素点赋值0,判定为该像素点为背景元素。设定预设位值为1,则能够确定二值化后的各个液晶晶格列图像中等于预设位值的像素点为各个液晶晶格列图像中包含的液晶晶格对应的像素点。

  步骤33、根据各个所述液晶晶格列图像中包含的各个所述液晶晶格对应的像素点在所述液晶面板图像的位置信息,得到各个所述液晶晶格列图像中包含的各个所述液晶晶格对应的第二坐标位置;

  确定各个液晶晶格列图像中包含的液晶晶格对应的像素点后,根据各个液晶晶格列图像中包含的各个液晶晶格对应的像素点在液晶面板图像的位置信息,得到各个液晶晶格列图像中包含的各个液晶晶格在液晶面板图像的第二坐标位置(xh0,yh0)、(xh1,yh1).....(xhH,yhH)(其中h代表列相,H代表每列液晶晶格列的总数目)。

  步骤34、根据所述第二坐标位置计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距。

  根据每一液晶晶格列图像中各个液晶晶格的第二坐标位置能够计算得到每列液晶晶格中每两相邻的两个液晶晶格之间的行间距。具体的,根据公式得到每列液晶晶格中每两相邻的两个液晶晶格之间的行间距Δdh0、Δdh1......ΔdhH-1。

  S150、若任一所述行间距大于预设标准间距,则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。

  根据待检测显示屏的液晶面板的规格设定液晶晶格的预设标准间距Δds tan dard。将液晶面板图像中每列液晶晶格列中每相邻的两个液晶晶格之间的行间距与液晶晶格的预设标准间距进行对比;若任一行间距大于预设标准间距,则说明该行间距对应的两个液晶晶格之间的有液晶晶格缺失,从而输出晶格缺失或具有暗点的检测结果,实现对待检测显示屏的缺陷进行检测,提高检测精度。

  在一个实施示例中,由于大于预设标准间距的行间距对应的两个液晶晶格的第二坐标位置是已知的,可以根据对应的两个液晶晶格的第二坐标位置计算得到缺失晶格的坐标数据。若任一所述行间距大于预设标准间距,则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果具体包括:若任一所述行间距大于预设标准间距,则根据所述行间距对应的两个所述液晶晶格的所述第二坐标位置计算缺失晶格的坐标数据;根据所有所述坐标数据,在所述液晶面板图像中标识出异常像素点;所述异常像素点为所述缺失的晶格所在像素点或所述暗点所在的像素点;输出包含标识有异常像素点的所述液晶面板图像的所述检测结果。

  具体的,当检测得到任一行间距大于预设标准间距时,说明该行间距对应的两个液晶晶格之间有液晶晶格缺失,该行间距对应的两个液晶晶格分别为缺失晶格的前一个已知液晶晶格和后一个已知液晶晶格。预设缺失晶格的坐标数据为P0(x0,y0),获取该行间距对应的两个液晶晶格的第二坐标位置P0-1(x0-1,y0-1)和P0+1(x0+1,y0+1);根据公式其中△d为缺失液晶晶格的前一个与后一个之间的距离。设d为缺失液晶晶格的大小,根据公式d=Δd-2*Δdstandard,Δds tan dard为预设的液晶晶格之间的距离。

  从而计算出缺失液晶晶格的长度大小,计算出缺失液晶晶格的左上角坐标PL(x0-d,y0-d),以及缺失晶格的右下角坐标PR(x0+d,y0+d),根据矩形的特性,需要左上角坐标和右下角坐标就能确定这个矩形,从而得到以P0(x0,y0)为中心,大小为2d*2d的一个矩形,即缺失晶格的坐标数据。

  当得到液晶面板图像中所有缺失晶格的坐标数据后,根据所有坐标数据,在液晶面板图像中标识出异常像素点;该异常像素点为所述缺失的晶格所在像素点或所述暗点所在的像素点;从而输出包含标识有异常像素点的液晶面板图像的检测结果,能够更加直观的展现出待检测显示屏的液晶面板的缺陷。

  本发明实施例提供的一种液晶显示屏的检测方法,获取待检测显示屏的液晶面板图像;所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格;获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息,根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距;从而根据液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息计算得到液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距;根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列;计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距;若任一所述行间距大于预设标准间距,则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。将液晶面板图像中每列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距与液晶晶格的预设标准间距进行对比;若任一行间距大于预设标准间距,则说明该行间距对应的两个液晶晶格之间的有液晶晶格缺失,从而输出晶格缺失或具有暗点的检测结果,实现对待检测显示屏的缺陷进行检测,提高检测精度。

  实施例二

  如图4所示的是本发明实施例二提供的液晶显示屏的检测装置。在实施例一的基础上,本发明实施例还提供了一种液晶显示屏的检测装置2,该装置包括:

  液晶面板图像获取模块401,用于获取待检测显示屏的液晶面板图像;所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格;

  列间距计算模块402,用于获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息,根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距;

  均分模块403,用于根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列;

  行间距计算模块404,用于计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距;

  检测结果输出模块405,用于若任一所述行间距大于预设标准间距,则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。

  在一个实施示例中,列间距计算模块402包括:

  子图像截取单元,用于从所述液晶面板图像中横向截取预设宽度的子图像;所述子图像的长度等于所述液晶面板图像的长度;

  第一间距计算单元,用于确定所述子图像包含的所述液晶晶格,计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距;

  列间距确定单元,用于根据所有所述第一间距计算得到平均间距,确定所述平均间距为所述列间距。

  在一个实施示例中,第一间距计算单元包括:

  图像二值化子单元,用于通过局部阈值法对所述子图像进行二值化处理,得到二值化图像;

  像素点确定子单元,用于确定所述二值化图像中等于预设位值的像素点为所述子图像中包含的所述液晶晶格对应的像素点;

  第一坐标位置计算子单元,用于根据所述子图像中包含的各个所述液晶晶格对应的像素点在所述子图像的位置信息,得到所述子图像中包含的各个所述液晶晶格对应的第一坐标位置;

  第一间距计算子单元,用于根据所述第一坐标位置计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距。

  在一个实施示例中,均分模块403包括:

  均分单元,用于根据所述列间距将所述液晶面板图像从竖向均分为若干液晶晶格列图像;每一所述液晶晶格列图像对应一列所述液晶晶格列。

  在一个实施示例中,行间距计算模块404包括:

  图像二值化单元,用于通过局部阈值法对各个所述液晶晶格列图像进行二值化处理;

  像素点确定单元,用于确定各个二值化后的所述液晶晶格列图像中等于所述预设位值的像素点为各个所述液晶晶格列图像中包含的所述液晶晶格对应的像素点;

  第二坐标位置计算单元,用于根据各个所述液晶晶格列图像中包含的各个所述液晶晶格对应的像素点在所述液晶面板图像的位置信息,得到各个所述液晶晶格列图像中包含的各个所述液晶晶格对应的第二坐标位置;

  行间距计算单元,用于根据所述第二坐标位置计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距。

  在一个实施示例中,检测结果输出模块405包括:

  坐标数据计算单元,用于若任一所述行间距大于预设标准间距,则根据所述行间距对应的两个所述液晶晶格的所述第二坐标位置计算缺失晶格的坐标数据;

  标识单元,用于根据所有所述坐标数据,在所述液晶面板图像中标识出异常像素点;所述异常像素点为所述缺失的晶格所在像素点或所述暗点所在的像素点;

  检测结果输出单元,用于输出包含标识有异常像素点的所述液晶面板图像的所述检测结果。

  在一个实施示例中,液晶显示屏的检测装置还包括:

  均值滤波模块,用于对所述液晶面板图像进行均值滤波处理,得到预处理图像;

  样本图像截取模块,用于从所述预处理图像中任意位置处截取预设尺寸的样本图像,对所述样本图像进行膨胀处理;

  角度偏差计算模块,用于获取膨胀处理后的所述样本图像在竖直方向上的实际角度,根据液晶晶格的预设角度和所述实际角度计算角度偏差;

  校正模块,用于根据所述角度偏差对所述液晶面板图像进行校正。

  本发明实施例提供的一种液晶显示屏的检测装置,获取待检测显示屏的液晶面板图像;所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格;获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息,根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距;从而根据液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息计算得到液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距;根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列;计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距;若任一所述行间距大于预设标准间距,则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。将液晶面板图像中每列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距与液晶晶格的预设标准间距进行对比;若任一行间距大于预设标准间距,则说明该行间距对应的两个液晶晶格之间的有液晶晶格缺失,从而输出晶格缺失或具有暗点的检测结果,实现对待检测显示屏的缺陷进行检测,提高检测精度。

  实施例三

  图5是本发明实施例四提供的终端设备的结构示意图。该终端设备包括:处理器51、存储器52以及存储在所述存储器52中并可在所述处理器51上运行的计算机程序53,例如用于液晶显示屏的检测方法的程序。所述处理器51执行所述计算机程序53时实现上述液晶显示屏的检测方法实施例中的步骤,例如图1所示的步骤S110至S150。

  示例性的,所述计算机程序53可以被分割成一个或多个模块,所述一个或者多个模块被存储在所述存储器52中,并由所述处理器51执行,以完成本申请。所述一个或多个模块可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段,该指令段用于描述所述计算机程序53在所述终端设备中的执行过程。例如,所述计算机程序53可以被分割成液晶面板图像获取模块、列间距计算模块、均分模块、行间距计算模块和检测结果输出模块,各模块具体功能如下:

  液晶面板图像获取模块,用于获取待检测显示屏的液晶面板图像;所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格;

  列间距计算模块,用于获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息,根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距;

  均分模块,用于根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列;

  行间距计算模块,用于计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距;

  检测结果输出模块,用于若任一所述行间距大于预设标准间距,则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。

  所述终端设备可包括,但不仅限于,处理器51、存储器52以及存储在所述存储器52中的计算机程序53。本领域技术人员可以理解,图5仅仅是终端设备的示例,并不构成对终端设备的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如所述终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。

  所述处理器51可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

  所述存储器52可以是所述终端设备的内部存储单元,例如终端设备的硬盘或内存。所述存储器52也可以是外部存储设备,例如液晶显示屏的检测装置上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器52还可以既包括液晶显示屏的检测装置的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器52用于存储所述计算机程序以及液晶显示屏的检测方法所需的其他程序和数据。所述存储器52还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。

  所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中,上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。另外,各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。

  在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。

  本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

  在本发明所提供的实施例中,应该理解到,所揭露的装置/终端设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通讯连接,可以是电性,机械或其它的形式。

  所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。

  所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程,也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个方法实施例的步骤。其中,所述计算机程序包括计算机程序代码,所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括:能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是,所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减,例如在某些司法管辖区,根据立法和专利实践,计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。

  以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本发明的保护范围之内。

《液晶显示屏的检测方法、装置及终端设备.doc》
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